南京郵電大學(xué)孫華斌獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉南京郵電大學(xué)申請的專利一種環(huán)保溶液法制備鐵電薄膜有機半導(dǎo)體晶體管的制備方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN116156903B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-29發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202310154930.1,技術(shù)領(lǐng)域涉及:H10K10/46;該發(fā)明授權(quán)一種環(huán)保溶液法制備鐵電薄膜有機半導(dǎo)體晶體管的制備方法是由孫華斌;陳賡;丁凱瑞;吳潔;陳子龍;于志浩;徐勇設(shè)計研發(fā)完成,并于2023-02-23向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本一種環(huán)保溶液法制備鐵電薄膜有機半導(dǎo)體晶體管的制備方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明涉及一種環(huán)保溶液法制備鐵電薄膜有機半導(dǎo)體晶體管的制備方法,屬于半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域。該器件包括:襯底;HfO2ZrO2Al2O3HfO2ZrO2交疊層;有機半導(dǎo)體層;金屬頂電極。通過1:1交疊旋涂HfO2和ZrO2前體溶液,可以得到鐵電極化均勻的HZO薄膜,通過插入超薄的Al2O3能夠有效抑制HZO膜單斜相形成,保證了HZAHZ膜鐵電性在總厚度增加后鐵電性不會退化。該HZO薄膜的溶液法采用的溶劑環(huán)保,制備工藝簡單,設(shè)備成本低,并且適用有機半導(dǎo)體晶體管。
本發(fā)明授權(quán)一種環(huán)保溶液法制備鐵電薄膜有機半導(dǎo)體晶體管的制備方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種環(huán)保溶液法制備鐵電薄膜有機半導(dǎo)體晶體管的制備方法,其特征在于,包括如下步驟: 1)制備氧化鉿柵薄膜介質(zhì)層,將四氯化鉿溶于去離子水,旋涂于硅片上,預(yù)退火固化薄膜; 2)在氮氣保護下制備氧化鋯薄膜柵介質(zhì)層,將八水氧氯化鋯溶于無水乙醇,旋涂于氧化鉿層上,預(yù)退火固化薄膜; 3)采用原子層沉積法生長氧化鋁薄膜作為隔斷層; 4)重復(fù)步驟1)、步驟2)得到HfO2ZrO2Al2O3HfO2ZrO2的鐵電交疊層,快速熱退火形成HZO薄膜; 5)在步驟4)基礎(chǔ)上制備DPPT-TT有機半導(dǎo)體層,然后蒸鍍頂電極,制備得到鐵電有機半導(dǎo)體晶體管; 所述的步驟1)中形成的氧化鉿薄膜厚度在10nm±2nm;所述的步驟2)中形成的氧化鋯薄膜厚度在10nm±2nm;步驟3)中形成的氧化鋁薄膜厚度在1.1nm±0.1nm; 所述步驟1)中預(yù)退火方式為:將硅片在150℃下預(yù)退火3min,所述步驟2)中預(yù)退火的方式為:將硅片在200℃氮氣環(huán)境下預(yù)退火5min,所述的步驟4)中,所述的快速熱退火工藝的方式為:放入高溫爐內(nèi)氮氣環(huán)境下,保持450℃熱退火2h。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人南京郵電大學(xué),其通訊地址為:210023 江蘇省南京市鼓樓區(qū)新模范馬路66號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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