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龍圖騰網獲悉兆易創新科技集團股份有限公司申請的專利自檢測電路及存儲裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119274609B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202310832173.9，技術領域涉及：G11C11/4091；該發明授權自檢測電路及存儲裝置是由金偉民;付永慶;馬英設計研發完成，并于2023-07-06向國家知識產權局提交的專利申請。

本自檢測電路及存儲裝置在說明書摘要公布了：本申請公開了一種自檢測電路及存儲裝置，該存儲裝置包括存儲電路、控制電路和自檢測電路，自檢測電路耦接于控制電路和存儲電路之間，自檢測電路包括內建自測試模塊和內建自測試界面；其中，內建自測試模塊通過內建自測試界面和第一定制總線連接至控制電路，內建自測試模塊被配置為通過第一定制總線和內建自測試界面從控制電路接收測試指令，基于測試指令執行自測試操作以偵測存儲電路中損壞的存儲單元，產生相應的壞點信息并存儲至存儲電路中。通過上述方式，本申請的自檢測電路可以對存儲電路中的損壞的存儲單元采取壞點自動測試，減少外部操作，可以實時獲取存儲電路中的壞點信息，且自動化程度、通用化程度及并行化程度都較高。

本發明授權自檢測電路及存儲裝置在權利要求書中公布了：1.一種自檢測電路，其特征在于，所述自檢測電路耦接于控制電路和存儲電路之間，所述自檢測電路包括內建自測試模塊和內建自測試界面； 其中，所述內建自測試模塊通過所述內建自測試界面和第一定制總線連接至所述控制電路，所述內建自測試模塊被配置為通過所述第一定制總線和所述內建自測試界面從所述控制電路接收測試指令，基于所述測試指令執行自測試操作以偵測所述存儲電路中損壞的存儲單元，產生相應的壞點信息并存儲至所述存儲電路中； 其中，所述內建自測試模塊包括至少一內建自測試子模塊，所述存儲電路包括至少一存儲晶粒，每個所述內建自測試子模塊分別對應一個相應的所述存儲晶粒，每個存儲晶粒包括第一存儲子模塊和第二存儲子模塊； 響應于至少一所述內建自測試子模塊基于所述測試指令對其對應的所述存儲晶粒中的所述第一存儲子模塊進行自測試操作，所述內建自測試子模塊偵測所述第一存儲子模塊中損壞的存儲單元，產生相應的壞點信息并將所述壞點信息存儲至對應的所述存儲晶粒中的所述第二存儲子模塊，其中，所述第一存儲子模塊作為自測試的測試用存儲子模塊，所述第二存儲子模塊作為自測試的測試結果存儲子模塊； 響應于至少一所述內建自測試子模塊基于所述測試指令對其對應的所述存儲晶粒中的所述第二存儲子模塊進行自測試操作，所述內建自測試子模塊偵測所述第二存儲子模塊中損壞的存儲單元，產生相應的壞點信息并將所述壞點信息存儲至對應的所述存儲晶粒中的所述第一存儲子模塊，其中，所述第二存儲子模塊作為自測試的測試用存儲子模塊，所述第一存儲子模塊作為自測試的測試結果存儲子模塊。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人兆易創新科技集團股份有限公司，其通訊地址為：100094 北京市海淀區豐豪東路9號院8號樓1至5層101；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。