廈門怡視科技有限公司彭鑫獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉廈門怡視科技有限公司申請的專利QFN/LGA/BGA封裝芯片的外觀檢測機獲國家實用新型專利權,本實用新型專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN223276733U 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的實用新型授權公告中獲悉:該實用新型的專利申請號/專利號為:202422278375.6,技術領域涉及:B07C5/34;該實用新型QFN/LGA/BGA封裝芯片的外觀檢測機是由彭鑫;陳思華;朱斌;陳慶喜;陳麗娟設計研發完成,并于2024-09-19向國家知識產權局提交的專利申請。
本QFN/LGA/BGA封裝芯片的外觀檢測機在說明書摘要公布了:QFNLGABGA封裝芯片的外觀檢測機,涉及檢測設備領域,包括機架,所述機架的頂部設有四軸機器人、可轉動的分度盤、用于檢測芯片底部焊盤和芯片抓取角度的第一相機、用于檢測芯片底部平整度的第二相機、分別用于檢測芯片四個側面的四個第三相機、用于檢測芯片頂面的第四相機、用于將芯片抓取至第二相機上方的第一取料機械手裝置、用于將芯片抓取至四個側面檢測位的第二取料機械手裝置、用于傳送檢測合格芯片的輸送裝置以及用于承接檢測不合格芯片的NG托盤,所述分度盤的頂面設有多個芯片放置治具。本實用新型實現了車載芯片六面的全面自動化檢測,顯著提高了檢測效率,減少了人工操作的時間和成本,同時還提供了檢測準確率。
本實用新型QFN/LGA/BGA封裝芯片的外觀檢測機在權利要求書中公布了:1.QFNLGABGA封裝芯片的外觀檢測機,其特征在于:包括機架,所述機架的頂部設有四軸機器人、可轉動的分度盤、用于檢測芯片底部焊盤和芯片抓取角度的第一相機、用于檢測芯片底部平整度的第二相機、分別用于檢測芯片四個側面的四個第三相機、用于檢測芯片頂面的第四相機、用于將芯片抓取至第二相機上方的第一取料機械手裝置、用于將芯片抓取至四個側面檢測位的第二取料機械手裝置、用于傳送檢測合格芯片的輸送裝置以及用于承接檢測不合格芯片的NG托盤,所述分度盤的頂面設有多個芯片放置治具。
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