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龍圖騰網獲悉中國科學院高能物理研究所申請的專利測量裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119374535B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411588470.4，技術領域涉及：G01B21/02；該發明授權測量裝置是由張路;梁好;張珊;許汝真;李鵬程;徐偉;湯善治;李明設計研發完成，并于2024-11-08向國家知識產權局提交的專利申請。

本測量裝置在說明書摘要公布了：本發明公開了一種測量裝置，包括底座、第一支架和第二支架，第一支架用于連接待測量系統，第二支架與第一支架間隔設置，且用于與待測量系統的位移輸出端連接；第一支架和第二支架中的其中一個設有位移測量件，另一個設有位移測量配合件；第一支架具有第一狀態和第二狀態；第二支架具有第三狀態和第四狀態；其中，第一支架在第一狀態時，第二支架在第三狀態，第一支架在第二狀態時，第二支架在第四狀態，第一范圍的最大值小于第二范圍的最小值。該測量裝置能夠對不同范圍的輸出位移進行測量，降低了測量成本。

本發明授權測量裝置在權利要求書中公布了：1.一種測量裝置，其特征在于，包括： 底座； 第一支架，所述第一支架用于連接待測量系統； 第二支架，所述第二支架與所述第一支架間隔設置，且用于與所述待測量系統的位移輸出端連接； 所述第一支架和所述第二支架中的其中一個設有位移測量件，另一個設有位移測量配合件，所述位移測量件為激光干涉儀，所述位移測量配合件為反射鏡或折射鏡； 所述第一支架具有第一狀態和第二狀態，在所述第一狀態，所述第一支架與所述底座固定連接，在所述第二狀態，所述第一支架通過可變形件與所述底座沿第一方向在第一范圍可活動連接，所述第一方向為所述待測量系統輸出位移的方向； 所述第二支架具有第三狀態和第四狀態，在所述第三狀態，所述第二支架與所述底座沿第一方向在第二范圍可活動連接，在所述第四狀態，所述第二支架與所述底座可拆卸固定連接； 其中，所述第一支架在所述第一狀態時，所述第二支架在所述第三狀態，所述第一支架在所述第二狀態時，所述第二支架在所述第四狀態，所述第一范圍的最大值小于所述第二范圍的最小值，所述第一范圍為微米級或納米級的位移范圍，所述第二范圍為厘米級的位移范圍。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院高能物理研究所，其通訊地址為：100049 北京市石景山區玉泉路19號(乙)院；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。