華中科技大學計效園獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉華中科技大學申請的專利大型鑄件內部缺陷智能檢測拍片路徑規劃方法及系統獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN119690145B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202411821104.9,技術領域涉及:G05D3/12;該發明授權大型鑄件內部缺陷智能檢測拍片路徑規劃方法及系統是由計效園;李沁陽;董淏;侯明君;殷亞軍;周建新;沈旭設計研發完成,并于2024-12-11向國家知識產權局提交的專利申請。
本大型鑄件內部缺陷智能檢測拍片路徑規劃方法及系統在說明書摘要公布了:本申請屬于鑄造產品質量檢測領域,公開一種大型鑄件內部缺陷智能檢測拍片路徑規劃方法及系統,方法包括:獲取鑄件模型上的角點、盲孔和大壁厚區域作為質量控制點;選取一個質量控制點作為起點,按照預設間距控制射線源遍歷鑄件模型表面查找相鄰質量控制點間的補充路徑點:若相鄰質量控制點的間距滿足預設間距,則以下一個質量控制點為新起點開始下一次查找;若不滿足預設間距,則以上一個質量控制點為起點查找,直至查到的補充路徑點與質量控制點的間距滿足預設間距;重復查找直至滿足停止條件;然后利用遺傳算法規劃實際拍片路徑。本申請可有效避免實際拍攝中拍攝角度不佳導致的缺陷與鑄件本體結構混雜等成像效果差、易產生漏檢的問題。
本發明授權大型鑄件內部缺陷智能檢測拍片路徑規劃方法及系統在權利要求書中公布了:1.一種大型鑄件內部缺陷智能檢測拍片路徑規劃方法,其特征在于,包括以下步驟: S1獲取鑄件模型上的角點、盲孔和大壁厚區域作為質量控制點; S2選取一個所述質量控制點作為起點,按照預設間距控制射線源遍歷鑄件模型表面查找相鄰質量控制點間的補充路徑點: 若相鄰質量控制點的間距滿足所述預設間距,則以下一個質量控制點為新起點開始下一次查找; 若相鄰質量控制點的間距不滿足預設間距,則以上一個質量控制點為起點依次查找補充路徑點,直至查找到的補充路徑點與下一個質量控制點的間距滿足預設間距時,再以下一個質量控制點為新起點進行下一次查找; 重復查找步驟,直至所有質量控制點和補充路徑點對應的射線映射區域能全部覆蓋所述鑄件模型的側面時停止查找,獲得由質量控制點和補充路徑點組成的路徑點集合; 所述預設間距為: 其中,a≤1,為相鄰射線映射區域間的重疊系數;x相鄰表示相鄰拍片點之間的距離,d板表示成像板的邊長;r表示包絡圓柱底面的半徑,也為成像板和包絡圓柱中心軸的間距;x源n表示鑄件模型上第n個補充路徑點到包絡圓柱中心軸的距離, 源為射線源到包絡圓柱中心軸的距離; S3基于所述路徑點集合,利用遺傳算法規劃實際拍片路徑。
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