買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！

龍圖騰網獲悉杭州欣俊哲微電子有限公司申請的專利一種圖像模板匹配方法及監測系統、裝置、存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119888279B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411919523.6，技術領域涉及：G06V10/75；該發明授權一種圖像模板匹配方法及監測系統、裝置、存儲介質是由田健;曾元;劉尚軍;張富原;李福祥設計研發完成，并于2024-12-25向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種圖像模板匹配方法及監測系統、裝置、存儲介質在說明書摘要公布了：本發明公開了一種圖像模板匹配方法及監測系統、裝置、存儲介質，包括：獲取采集圖像和模板圖像；至少通過第一特征匹配模型和第二特征匹配模型分別對采集圖像的各個特征點進行提取；特征點數據歸一化處理并且合并成采集特征數據合集；根據單應矩陣H將采集特征數據合集中的各個特征點和模板特征數據合集中的各個特征點相互配對以得到多個匹配點組，所述匹配點組中包括滿足對極幾何約束條件的采集特征數據合集中的特征點和模板特征數據合集中的特征點；分別對各個匹配點組中采集特征數據合集中的特征點和模板特征數據合集中的特征點進行差異程度計算；根據差異程度信息得出缺陷位置，本設計降低計算負荷，提高分析效率，縮短處理時間。

本發明授權一種圖像模板匹配方法及監測系統、裝置、存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種圖像模板匹配方法，其特征在于，包括： 獲取采集圖像和模板圖像； 至少通過第一特征匹配模型和第二特征匹配模型分別對采集圖像的各個特征點進行提取，以得出第一采集特征數據集和第二采集特征數據集； 將第一采集特征數據集內的特征點數據和第二采集特征數據集的特征點數據歸一化處理并且合并成采集特征數據合集；利用隨機抽樣一致性算法得出單應矩陣H，根據單應矩陣H將采集特征數據合集中的各個特征點和模板特征數據合集中的各個特征點相互配對以得到多個匹配點組，所述匹配點組中包括滿足對極幾何約束條件的采集特征數據合集中的特征點和模板特征數據合集中的特征點，其中，所述模板特征數據合集中的特征點包括第一模板特征數據集內的特征點數據和第二模板特征數據集的特征點數據經過歸一化處理后合并而來，第一模板特征數據集由第一特征匹配模型對模板圖像的各個特征點進行提取而得出，第二模板特征數據集由第二特征匹配模型對模板圖像的各個特征點進行提取而得出； 分別對各個匹配點組中采集特征數據合集中的特征點和模板特征數據合集中的特征點進行差異程度計算以得出差異程度信息； 根據差異程度信息得出缺陷位置，輸出缺陷位置。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人杭州欣俊哲微電子有限公司，其通訊地址為：310000 浙江省杭州市蕭山區杭州空港經濟區保稅路西側保稅大廈184-2室(自主申報)；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。