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龍圖騰網獲悉北京科技大學申請的專利用于檢測樣品太赫茲頻段光學參數的電動旋轉樣架及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN116625957B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202310531972.2，技術領域涉及：G01N21/25；該發明授權用于檢測樣品太赫茲頻段光學參數的電動旋轉樣架及方法是由張天堯;張朝暉;趙小燕;袁媛設計研發完成，并于2023-05-11向國家知識產權局提交的專利申請。

本用于檢測樣品太赫茲頻段光學參數的電動旋轉樣架及方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種用于檢測樣品太赫茲頻段光學參數的電動旋轉樣架及方法，適用于透射式太赫茲時域光譜系統，所述電動旋轉樣架包括升降臺、驅動系統和刻度盤；其中，刻度盤安裝在升降臺上，其高度可調節；刻度盤包括刻度盤主體和角度主尺盤，角度主尺盤上設有角度主尺刻度，刻度盤主體上設有角度游標刻度；在驅動系統的驅動下，角度主尺盤可在刻度盤主體上轉動；刻度盤的圓心位置設置有用于安置待測樣品的安置槽；在將待測樣品安置于安置槽后，待測樣品可隨角度主尺盤一起轉動。利用本發明的技術方案，可在無需任何先驗參數和樣品接觸的情況下，實現雙折射晶體光軸方向定位和樣品無接觸測厚，并提高太赫茲頻段光學參數的測量速度、穩定性和精確度。

本發明授權用于檢測樣品太赫茲頻段光學參數的電動旋轉樣架及方法在權利要求書中公布了：1.一種檢測樣品太赫茲頻段光學參數的方法，利用電動旋轉樣架實現，其特征在于，所述電動旋轉樣架包括：升降臺、驅動系統以及刻度盤；其中，所述刻度盤安裝在所述升降臺上，且安裝固定后，所述刻度盤的盤面呈豎直方向設置，在所述升降臺的帶動下，所述刻度盤的高度可調節；所述刻度盤包括刻度盤主體和角度主尺盤，所述角度主尺盤與所述刻度盤主體同圓心設置，所述角度主尺盤的圓周內側設置有角度主尺刻度，所述刻度盤主體上，沿所述角度主尺盤的圓周方向，設置有角度游標刻度；在所述驅動系統的驅動下，所述角度主尺盤可在所述刻度盤主體上轉動，所述角度游標刻度與所述角度主尺刻度配合，用于顯示所述角度主尺盤的轉動角度；所述刻度盤的圓心位置設置有安置槽，所述安置槽用于安置待測樣品；在將待測樣品安置于所述安置槽后，所述待測樣品可隨所述角度主尺盤一起轉動； 所述方法包括： 將電動旋轉樣架置于透射式太赫茲時域光譜系統光束聚焦處，調節升降臺高度，使得刻度盤中心與太赫茲波聚焦位置重合，測量空氣參考信號并保存； 將待測樣品嵌入安置槽內，使線偏振太赫茲波以任意方向穿過待測樣品，調整透射式太赫茲時域光譜系統光學延遲線，掃描太赫茲時域波形，定位雙折射引起的時域波形雙峰峰位； 鎖定光學延遲線于首個波形峰值所在位置，調用電動旋轉樣架使待測樣品旋轉一周，峰值信號最大時輸出角度即為光軸角度，從而實現待測樣品的光軸自動定位；其中，若所述待測樣品為負晶體，則將光學延遲線定位于快軸峰值位置；若所述待測樣品為正晶體，則將光學延遲線定位于慢軸峰值位置； 解鎖光學延遲線，掃描非常光軸完整太赫茲波信號，調用電動旋轉樣架使待測樣品旋轉90度，再次掃描尋常光軸完整太赫茲波信號； 通過傳遞函數迭代逼近算法，從尋常光和非常光信號中提取待測樣品厚度； 基于得到的光軸方向和樣品厚度，計算樣品太赫茲頻段光學參數。

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