買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！

龍圖騰網獲悉中國人民解放軍軍事科學院國防科技創新研究院申請的專利基于太赫茲高光譜成像的痕量物質檢測方法和系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN117054369B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202311049463.2，技術領域涉及：G01N21/3586；該發明授權基于太赫茲高光譜成像的痕量物質檢測方法和系統是由王日德;常超;阮浩;王佳藝;張曉寶;楊霄;婁菁;劉曉宇;江潤東設計研發完成，并于2023-08-21向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于太赫茲高光譜成像的痕量物質檢測方法和系統在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于太赫茲高光譜成像的痕量物質檢測方法和系統，涉及痕量物質檢測領域，包括：通過超構表面局域光場提高光場與待測樣品的相互作用的效率；通過太赫茲高光譜成像技術采集樣品的高光譜圖像數據；利用特征提取算法提取光譜數據中的特征信息；通過建立基于特征信息的模型進行定量分析，并得出痕量物質的濃度、成分等信息。使用太赫茲高光譜成像技術進行檢測，具有高靈敏度、無損檢測等特點，可以對痕量物質進行快速、準確、定量的檢測。此外，該方法不需要對樣品進行處理，對樣品在傳感器表面的制備工藝要求低，避免了樣品污染、檢測誤差以及痕量樣品在結構表面由于分布不均導致的誤差。

本發明授權基于太赫茲高光譜成像的痕量物質檢測方法和系統在權利要求書中公布了：1.一種基于太赫茲高光譜成像的痕量物質檢測方法，其特征在于，包括： 通過紫外光刻和磁控濺射將金屬超構表面加工在石英、硅或有機高分子襯底表面制成超表面結構，所述超表面結構用于提高光場與待測樣品的相互作用的效率； 將超表面結構放置于水平二維平移臺上，將太赫茲信號以傾斜10°的方向輻射到所述超表面結構上，經過超表面反射，對反射信號進行收集，掃描二維平移臺，對每次移動后的位置對應的超表面進行光譜收集和成像；對超表面單元結構的諧振響應進行分析，并將其作為參考信號； 在相同的條件參數下，將預處理后的痕量待檢樣品轉移到所述超表面結構表面并置于樣品臺上，在二維平面上平移所述樣品臺，對每次移動后的位置對應的所述待檢樣品表面進行成像和光譜收集； 利用特征提取算法提取光譜數據中的特征信息； 建立所述待檢樣品在所述超表面結構上的二維分布信息和超表面結構的電磁響應特性譜線； 所述建立所述待檢樣品在所述超表面結構上的二維分布信息和超表面結構的電磁響應特性譜線的步驟具體包括： 分析所述超表面結構的單元結構，根據各位置生成的成像圖形，提取各位置處的太赫茲光譜信息，分析放物質前后共振單元諧振頻率漂移量； 對掃描的各個位置處得到的頻率漂移量進行求和，接著除以成像面積，獲得一條平均光譜信號，每條光譜包含2048個點； 對不同痕量的物質重復如上操作，建立頻率漂移與痕量物質的量之間的對應關系； 通過建立基于所述特征信息的模型進行定量分析，得出所述待檢樣品的濃度信息和或成分信息。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國人民解放軍軍事科學院國防科技創新研究院，其通訊地址為：100071 北京市豐臺區東大街53號院；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。