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龍圖騰網獲悉中國科學院地理科學與資源研究所申請的專利一種大土柱X射線成像孔隙結構的分析方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119068010B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411176531.6，技術領域涉及：G06T7/136；該發明授權一種大土柱X射線成像孔隙結構的分析方法是由任利東設計研發完成，并于2024-08-26向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種大土柱X射線成像孔隙結構的分析方法在說明書摘要公布了：本發明提出了一種大土柱X射線成像孔隙結構的分析方法，屬于土壤學、水文生態、環境科學領域。包括大土柱樣品二值分割前預處理，二值圖像去噪處理，基于孔隙聯通和形態的植物根系孔隙提取，以及根系和非根系孔隙參數量化。其中，二值分割采用基于局部閾值法的Phansalkar方法，并針對大土柱進行優化。圖像去噪處理使用MorphoLibJ插件，并進行圖像移除以提取擾動孔隙。植物根系孔隙的提取采用基于改進的Biopore方法。最后，使用ImageJ插件進行根系和非根系孔隙的參數量化。這種方法能有效提取并分析大土柱X射線成像的孔隙結構，可用于土壤結構的研究與分析。

本發明授權一種大土柱X射線成像孔隙結構的分析方法在權利要求書中公布了：1.一種大土柱X射線成像孔隙結構的分析方法，其特征在于：所述的方法包括： 大土柱圖像樣品二值分割前預處理，采用基于局部閾值法的大土柱樣品二值分割方法； 分割后二值圖像去噪處理； 基于孔隙聯通和形態的植物根系孔隙提取方法； 根系和非根系孔隙參數量化； 所述的基于局部閾值法的大土柱樣品二值分割方法包括： 利用局部閾值法中的Phansalkar方法，并提出針對一般性大土柱的最優Phansalkar改進算法，計算公式如下： t＝mean*1+p*exp-q*mean+k*stdevr-1 其中mean和stdev分別為本地平均值和標準偏差；p和q的值取固定值，其中p＝2，q＝10；k和r分別為參數1和2，其中k＝0.25，r＝7； 所述的分割后二值圖像去噪處理，使用MorphoLibJ插件中的“InteractiveMorphologicalRestructuring3D”方法提取擾動孔隙，并通過對提取的擾動孔隙與原始圖像進行圖像移除； 去除分辨率帶來的噪點使用ImageJ自帶的去噪方法，對于低分辨率大土柱使用“iterations＝1count＝8black”進行閉操作去除； 所述的植物根系孔隙提取方法采用基于改進的Biopore方法，通過改進Biopore中“scaling”的范圍參數，使得植物根系孔隙圖像中包含樣本分辨率中根系孔隙，達到提取根系結構的效果。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院地理科學與資源研究所，其通訊地址為：100101 北京市朝陽區大屯路甲11號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。