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龍圖騰網(wǎng)獲悉中科億海微電子科技(蘇州)有限公司申請的專利提高測試覆蓋率的測試電路及工作方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN120028681B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-26發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202510510804.4，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R31/28；該發(fā)明授權(quán)提高測試覆蓋率的測試電路及工作方法是由譚麗萍;魏育成;徐成華;孫曉寧設(shè)計研發(fā)完成，并于2025-04-23向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本提高測試覆蓋率的測試電路及工作方法在說明書摘要公布了：提高測試覆蓋率的測試電路及工作方法，能夠在對芯片做DFT時，保證高頻時鐘域邏輯at?speedfault和stuck?atfault都能測試的情況下，使得低頻邏輯電路不做at?speed測試時能夠測試stuck?atfault，從而提高整個芯片stuck?at測試的覆蓋率。當芯片進入at?speed測試模式，由掃描使能scan_enable來控制第二時鐘門控電路，在scan_enable拉高后，通過第三寄存器對scan_enable進行打拍處理，第二時鐘門控電路輸出時鐘晚輸出一個周期，通過第三與門使得scan_enable拉低時關(guān)停時鐘輸出。

本發(fā)明授權(quán)提高測試覆蓋率的測試電路及工作方法在權(quán)利要求書中公布了：1.提高測試覆蓋率的測試電路，其特征在于：其包括第三寄存器（U11）、第三與門（U12）、第二時鐘門控電路（U13）、第四雙路選擇器（U14）； 靜態(tài)故障stuck-at測試時，通過第二時鐘門控電路使第四雙路選擇器得到與掃描時鐘scan_clock一致的時鐘，而通過stuck-at測試模式信號pll_bypass高電平控制第二時鐘門控電路處于透明態(tài)，掃描模式scan_mode信號為高電平，第四雙路選擇器輸出scan_clock到功能寄存器FunctionDFFs，獲得符合預(yù)期的scan_clock； 當芯片進入高速故障at-speed測試模式，由掃描使能scan_enable來控制第二時鐘門控電路，在scan_enable拉高后，通過第三寄存器對scan_enable進行打拍處理，第二時鐘門控電路輸出時鐘晚輸出一個周期，通過第三與門使得scan_enable拉低時關(guān)停時鐘輸出。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人中科億海微電子科技(蘇州)有限公司，其通訊地址為：215127 江蘇省蘇州市吳中區(qū)甪直鎮(zhèn)長虹北路169號吳淞江商務(wù)區(qū)A幢2層；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。