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龍圖騰網(wǎng)獲悉江南大學(xué)申請的專利一種雙波長變形測量方法及測量儀獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN115597515B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-22發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202211267496.X，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01B11/16；該發(fā)明授權(quán)一種雙波長變形測量方法及測量儀是由劉誠;嚴(yán)一彰;蔣志龍?jiān)O(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2022-10-17向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種雙波長變形測量方法及測量儀在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種雙波長變形測量方法及測量儀，該方法包括以下步驟：步驟一：只打開第一激光光源，使待測物體保持未發(fā)生位移的原始位置不變，直接采集干涉圖像記為Iλ11；步驟二：只打開第二激光光源，使待測物體保持未發(fā)生位移的原始位置不變，直接采集干涉圖像記為Iλ21；步驟三：只打開第一激光光源，使待測物體發(fā)生位移，直接采集干涉圖像記為Iλ12；步驟四：只打開第二激光光源，使待測物體發(fā)生位移，直接采集干涉圖像記為Iλ22；步驟五：根據(jù)步驟一到四采集到的圖像計(jì)算待測物體位移的干涉條紋強(qiáng)度分布I；步驟六：根據(jù)步驟五計(jì)算得到的待測物體位移的干涉條紋強(qiáng)度分布I計(jì)算待測物體位移產(chǎn)生的高度差Δh。本發(fā)明測量精度高，測量速度快，測量范圍廣。

本發(fā)明授權(quán)一種雙波長變形測量方法及測量儀在權(quán)利要求書中公布了：1.一種雙波長變形測量方法，其特征在于，應(yīng)用雙波長變形測量儀進(jìn)行測量； 所述雙波長變形測量儀包括第一激光光源、第二激光光源和電荷耦合器件，在所述第一激光光源出射光線的傳播路徑上依次設(shè)有第一分光棱鏡、第一衰減器、第一反射鏡、第一空間濾波器、第一擴(kuò)束準(zhǔn)直器、第二反射鏡、第三反射鏡、第四反射鏡和第二分光棱鏡，作為參考光路；在所述第二激光光源出射光線的傳播路徑上依次設(shè)有第一分光棱鏡、第二衰減器、第二空間濾波器、第二擴(kuò)束準(zhǔn)直器和第二分光棱鏡，作為物光路； 所述雙波長變形測量方法包括以下步驟： 步驟一：只打開第一激光光源，使待測物體保持未發(fā)生位移的原始位置不變，通過電荷耦合器件直接采集干涉圖像記為Iλ11； 步驟二：只打開第二激光光源，使待測物體保持未發(fā)生位移的原始位置不變，通過電荷耦合器件直接采集干涉圖像記為Iλ21； 步驟三：只打開第一激光光源，使待測物體發(fā)生位移，通過電荷耦合器件直接采集干涉圖像記為Iλ12； 步驟四：只打開第二激光光源，使待測物體發(fā)生位移，通過電荷耦合器件直接采集干涉圖像記為Iλ22； 步驟五：根據(jù)步驟一到四采集到的圖像計(jì)算待測物體位移的干涉條紋強(qiáng)度分布I； 步驟六：根據(jù)步驟五計(jì)算得到的待測物體位移的干涉條紋強(qiáng)度分布I計(jì)算待測物體位移產(chǎn)生的高度差Δh。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人江南大學(xué)，其通訊地址為：214122 江蘇省無錫市濱湖區(qū)蠡湖大道1800號；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。