華虹半導體(無錫)有限公司鄧慧芳獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉華虹半導體(無錫)有限公司申請的專利光學鄰近修正方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN116125757B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-22發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202310067085.4,技術(shù)領域涉及:G03F7/20;該發(fā)明授權(quán)光學鄰近修正方法是由鄧慧芳;江志興;范曉設計研發(fā)完成,并于2023-01-16向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本光學鄰近修正方法在說明書摘要公布了:一種光學鄰近修正方法,包括:提供目標圖形,所述目標圖形包括若干組同類型邊;將每組所述同類型邊進行分段處理,獲取若干分割段;調(diào)整每組所述同類型邊中各個所述分割段的控制點的位置參數(shù)、以及所述目標圖形各個拐角的半徑參數(shù),建立原始參數(shù)矩陣;根據(jù)所述原始參數(shù)矩陣對所述目標圖形進行若干次光學鄰近修正,并獲取每次所述光學鄰近修正后的曝光圖形,并從若干所述曝光圖形中獲取最佳曝光圖形;獲取所述最佳曝光圖形對應的所述原始參數(shù)矩陣中最佳參數(shù)分配。在保證不擴大所述目標圖形的前提下,獲取所述最佳曝光圖形,進而有效避免短路風險,以及提高所述曝光圖形的面積,增加后續(xù)工藝的可靠性。
本發(fā)明授權(quán)光學鄰近修正方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種光學鄰近修正方法,其特征在于,包括: 提供目標圖形,所述目標圖形包括若干組同類型邊; 將每組所述同類型邊進行分段處理,獲取若干分割段; 調(diào)整每組所述同類型邊中各個所述分割段的控制點的位置參數(shù)、以及所述目標圖形各個拐角的半徑參數(shù),建立原始參數(shù)矩陣; 根據(jù)所述原始參數(shù)矩陣對所述目標圖形進行若干次光學鄰近修正,并獲取每次所述光學鄰近修正后的曝光圖形,并從若干所述曝光圖形中獲取最佳曝光圖形; 獲取所述最佳曝光圖形對應的所述原始參數(shù)矩陣中最佳參數(shù)分配。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人華虹半導體(無錫)有限公司,其通訊地址為:214028 江蘇省無錫市新吳區(qū)新洲路30號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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