中國科學院新疆理化技術研究所文林獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國科學院新疆理化技術研究所申請的專利光電成像器件輻射損傷的分類方法、裝置、設備及介質獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN116310512B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-22發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202310106275.2,技術領域涉及:G06V10/764;該發明授權光電成像器件輻射損傷的分類方法、裝置、設備及介質是由文林;趙子韜;李豫東;周東;馮婕;施煒雷;郭旗設計研發完成,并于2023-02-13向國家知識產權局提交的專利申請。
本光電成像器件輻射損傷的分類方法、裝置、設備及介質在說明書摘要公布了:本公開提供了一種光電成像器件輻射損傷的分類方法,應用于圖像傳感器檢測技術領域,包括:獲取不同退火時間下光電成像器件采集到的暗場圖像像素的暗電流數據,對滿足預設條件的像素的暗電流數據進行樣條插值,得到樣條插值結果,對樣條插值結果取切比雪夫零點,對切比雪夫零點進行拉格朗日插值,得到暗電流演變的多項式結果并將暗電流演變的多項式結果在預設坐標系中繪制成暗電流演變曲線,對于每兩個不同的像素,分別將每兩個不同的像素的暗電流演變曲線繪制于預設坐標系中,得到曲線繪制結果,根據曲線繪制結果,得到光電成像器件輻射損傷的像素級分類結果。本公開還提供了一種光電成像器件輻射損傷的分類裝置、電子設備及存儲介質。
本發明授權光電成像器件輻射損傷的分類方法、裝置、設備及介質在權利要求書中公布了:1.一種光電成像器件輻射損傷的分類方法,其特征在于,包括: 獲取不同退火時間下光電成像器件采集到的暗場圖像像素的暗電流數據,包括在所述不同退火時間下,對輻照后的所述光電成像器件進行暗場的圖像采集,得到多張暗場圖像;計算不同積分時間下所述暗場圖像每個像素的平均灰度值;以所述積分時間為自變量,所述平均灰度值為因變量,計算曲線斜率,所述曲線斜率為所述每個像素對應的暗電流; 對滿足預設條件的像素的暗電流數據進行樣條插值,得到樣條插值結果; 對所述樣條插值結果取切比雪夫零點; 對所述切比雪夫零點進行拉格朗日插值,得到暗電流演變的多項式結果并將所述暗電流演變的多項式結果在預設坐標系中繪制成暗電流演變曲線; 對于每兩個不同的像素,分別將所述每兩個不同的像素的暗電流演變曲線繪制于所述預設坐標系中,得到曲線繪制結果,包括:將目標像素和所有另一像素的暗電流演變曲線繪制于所述坐標系中,所述另一像素為除所述目標像素之外的像素;對于每條所述目標像素和另一像素的暗電流演變曲線,計算不同橫坐標對應的縱坐標差的標準差;將標準差最小的2條所述暗電流演變曲線歸為一類,得到所述目標像素的分類結果; 根據所述曲線繪制結果,得到所述光電成像器件輻射損傷的像素級分類結果,包括:對所有所述目標像素的分類結果取交集,得到所述光電成像器件輻射損傷的像素級分類結果。
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