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龍圖騰網獲悉深圳市立可自動化設備有限公司申請的專利半導體芯片測試方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN118858892B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-22發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202410960581.7，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權半導體芯片測試方法及系統是由周曉龍;劉云峰;陳雨杰;杜海權設計研發完成，并于2024-07-17向國家知識產權局提交的專利申請。

本半導體芯片測試方法及系統在說明書摘要公布了：本發明涉及集成電路設計和封裝的技術領域，公開了半導體芯片測試方法及系統。所述芯片測試方法，應用于測試設備，具體包括以下步驟：S101：接收前序制造端發送的測試請求，所述測試請求攜帶有待測試的芯片特征數據和所述特征數據的文件格式；S102：識別所述待測試的芯片特征數據的文件格式，并將所述芯片特征數據輸入到預設的內容識別模型中進行識別，同時對待測試的芯片進行測試處理。本發明通過預設特征數據與測試出的當前特征數據值進行比對，從而確定所測試的半導體芯片的不足與瑕疵，自動化測試解決了半自動人工芯片測試過程中由于效率不足耗費人力過多，致使測試更準確、更穩定，且所測試的數據更加高效與精準。

本發明授權半導體芯片測試方法及系統在權利要求書中公布了：1.半導體芯片測試方法，其特征在于，應用于測試設備，具體包括以下步驟： S101：接收前序制造端發送的測試請求，所述測試請求攜帶有待測試的芯片特征數據和所述特征數據的文件格式； 其中，接收前序制造端發送的測試請求，包括： 通過預設網絡接收前序制造端發送的連接請求，所述連接請求用于請求與所述測試設備建立連接； 檢測所述前序制造端的當前工序標識，并確定當前工序標識所需測試的內容； 識別已經到位的待測試的芯片，根據確定當前工序標識所需測試的內容進行測試，測試完成后，將所獲取的測試數據輸送至建立連接的前序制造端上； S102：識別所述待測試的芯片特征數據的文件格式，并將所述芯片特征數據輸入到預設的內容識別模型中進行識別，同時對待測試的芯片進行測試處理； 其中，識別所述待測試的芯片特征數據的文件格式，包括： 獲取待測試的芯片特征數據，并對待測試的芯片特征數據進行第一次特征識別讀取，以確定當前字符格式； 獲取當前字符格式的翻譯模型，將待測試的芯片特征數據輸入至當前字符格式的翻譯模型中進行數據內容翻譯，以獲取當前翻譯特征數據； 獲取當前翻譯特征數據，并對當前翻譯特征數據進行第二次特征識別讀取，以確定待測試的芯片特征數據的內容； S103：獲取所述內容識別模型基于所述芯片特征數據輸出的內容識別結果，在所述內容識別結果中，獲取所述芯片特征數據的預設特征數據值以及待測試的芯片測試處理后所獲取的當前特征數據值； 所述芯片特征數據的預設特征數據值為所需加工出的半導體芯片的理想特征數據，所述測試設備在獲取半導體芯片的理想特征數據后，再對半導體芯片進行測試，獲取當前特征數據值，完成理想特征數據與當前特征數據值的對比，獲取偏位特征； S104：根據所述預設特征數據值生成預設的關聯指數生成模型曲線，所述預設的關聯指數生成模型曲線包括半導體芯片的物理屬性關聯數值與通信屬性關聯數值； S105：獲取的當前特征數據值，并將所述當前特征數據值插入至預設的關聯指數生成模型曲線中，判斷所測試的當前特征數據值與預設的關聯指數生成模型曲線的偏位特征，如果所述偏位特征位于所設定的閾值范圍內，就根據預先建立半導體芯片和測試設備的對應標識關系，在半導體芯片上建立驗證標識； 其中，獲取的當前特征數據值，并將所述當前特征數據值插入至預設的關聯指數生成模型曲線中，包括： 獲取預設特征數據值所生成預設的關聯指數生成模型曲線； 獲取的當前特征數據值，根據當前特征數據值的物理屬性關聯數值與通信屬性關聯數值對應關系，在關聯指數生成模型曲線中獲取多個當前特征數據值離散點； 鏈接當前特征數據值離散點，保證所鏈接的當前特征數據值離散點的斜率與關聯指數生成模型曲線相近。

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