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龍圖騰網獲悉深圳市卓碳新材料有限公司申請的專利一種納米材料密度分布狀態的評估分析方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN118969146B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-22發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411001411.2，技術領域涉及：G16C60/00；該發明授權一種納米材料密度分布狀態的評估分析方法是由唐運珩;賈義恩設計研發完成，并于2024-07-24向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種納米材料密度分布狀態的評估分析方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種納米材料密度分布狀態的評估分析方法，涉及納米材料的技術領域，通過對待檢測納米材料進行預處理和區域分割，確保樣品的均勻性和代表性，減少樣品不均勻性對評估結果的影響，通過選擇n組簇中心并結合密度評估數據集合，確定每個簇中心內納米顆粒的數量Nks，并根據各簇中心內納米顆粒的相對豐度Xdfd構建顆粒分布系數Kfxs，有效評估納米顆粒的分布狀態；通過特征提取獲取待檢測樣本的有效表面積及孔隙率，并結合這兩個參數構建結構狀態系數Jzxs，從多維度評價納米材料的結構特性和分布狀態。通過訓練后的模型計算獲取待檢測樣本的總體密度分布評估指數Zmzs，確保模型具有較高的預測準確性和泛化能力。

本發明授權一種納米材料密度分布狀態的評估分析方法在權利要求書中公布了：1.一種納米材料密度分布狀態的評估分析方法，其特征在于：包括以下步驟， S1、預先對待檢測納米材料進行清洗作業，并對清洗后的待檢測納米材料進行區域分割，以獲取若干組待檢測樣本； S2、分別對若干組待檢測樣本進行相關結構數據及相關顆粒狀態數據的采集，以構建密度評估數據集合，并將密度評估數據集合內相關數據進行數據預處理，結合無量綱處理技術，將數據預處理后的相關數據進行單位統一化； S3、預先選擇n組簇中心，并結合密度評估數據集合，確定每個簇中心內納米顆粒數量Nks，根據每個簇中心內納米顆粒數量Nks，獲取各簇中心內納米顆粒的相對豐度Xdfd，依據各簇中心內納米顆粒的相對豐度Xdfd及相關顆粒狀態數據，構建顆粒分布系數Kfxs； S3具體步驟包括： S31、預先選擇n組簇中心，依據S212步驟中的納米顆粒尺寸信息單元，將納米顆粒尺寸信息單元內的每個納米顆粒尺寸初步分配至每組簇中心內，以計算每個納米顆粒尺寸到所有簇中心的距離，其中每組簇中心表示為每個簇內納米顆粒的平均尺寸，且每個簇內納米顆粒的平均尺寸為初步隨機設定； S311、使用歐氏距離算法，計算每個納米顆粒尺寸到所有簇中心的距離，以尺寸為a的納米顆粒到第b組簇中心的距離Jza，b為例，其具體通過以下方式獲取： S32、根據計算出的每個納米顆粒尺寸到所有簇中心的距離，將每個納米顆粒尺寸分配到最近的簇中心，以計算每個簇中所有納米顆粒尺寸的均值，并將當前計算的每個簇中所有納米顆粒尺寸的均值作為新的簇中心； S33、重復S31步驟及S32步驟，直到預先選擇的n組簇中心不再發生變化，停止重復作業，獲取最終的簇中心，最終確定每個簇中心內納米顆粒數量Nks； S4、通過將所述相關結構數據進行特征提取后，獲取待檢測樣本的有效表面積Yxmd及孔隙率Kxz，依據所述有效表面積Yxmd及所述孔隙率Kxz，獲取結構狀態系數Jzxs，通過將顆粒分布系數Kfxs及結構狀態系數Jzxs做無量綱處理后，結合經訓練后的分布預測模型，計算獲取待檢測樣本的總體密度分布評估指數Zmzs； S5、預先設置評估閾值P，并將所述評估閾值P與所述總體密度分布評估指數Zmzs進行比對分析，以評估出當前納米材料的密度分布狀態情況，并根據相應的密度分布狀態情況發出相應的預警命令。

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