蘇州獵奇智能設備股份有限公司李文明獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉蘇州獵奇智能設備股份有限公司申請的專利一種光通信芯片測試設備及方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120394397B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-26發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510898112.1,技術領域涉及:B07C5/344;該發明授權一種光通信芯片測試設備及方法是由李文明;徐凱;劉雙設計研發完成,并于2025-07-01向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種光通信芯片測試設備及方法在說明書摘要公布了:本發明涉及光通信芯片測試技術領域,并且公開了一種光通信芯片測試設備及方法,包括搬運模組、載具模組和測試模組,各模組又分別包括對應的模塊和機構,待測芯片通過搬運模組從所述供料模塊轉運至所述測試載臺上完成多項測試后,再通過所述搬運模組將芯片從測試載臺轉運至所述存儲模塊分類存儲;本發明將芯片的相干測試項目集中在一臺設備上進行,并通過各模組和模塊之間的配合協作,實現芯片的上料、測試及下料分類存儲的自動操作,不僅能避免人工操作因素影響芯片測試的合格率,而且極大提高了整體生產效率,降低生產成本,同時提高了分類存儲的效率,無需等多個設備測試完才能整理數據分類。
本發明授權一種光通信芯片測試設備及方法在權利要求書中公布了:1.一種光通信芯片測試設備,其特征在于:包括用于轉運芯片的搬運模組,所述搬運模組的下方相對設置有載具模組和測試模組; 所述測試模組包括耦合臺模塊、探針模塊、耦合測試模塊以及用于驅動所述耦合臺模塊水平移動的移載模塊,所述耦合臺模塊位于所述移載模塊的上方,且所述探針模塊和所述耦合測試模塊相鄰分布于所述移載模塊的兩側; 所述耦合臺模塊包括用于安裝芯片的測試載臺,所述測試載臺的底部設置有用于溫度循環測試的溫控模塊,所述溫控模塊與所述移載模塊的輸出端相連,且所述移載模塊的輸出端與所述溫控模塊之間設置有用于調節芯片位姿的第一調節機構; 所述探針模塊包括位于所述測試載臺上方的探針卡,所述探針卡的底部設置有多組用于測試芯片不同性能的探針; 所述測試模組還包括底座,所述耦合測試模塊和所述移載模塊均安裝于所述底座上,且所述底座上還設置有測試支架,所述測試支架上安裝有Z軸驅動機構,所述Z軸驅動機構的輸出端連接有用于調整所述探針卡位姿的第二調節機構,且所述探針卡安裝于所述第二調節機構的輸出端; 所述載具模組上設置有供料模塊和存儲模塊,待測芯片通過搬運模組從所述供料模塊轉運至所述測試載臺上完成多項測試后,再通過所述搬運模組將芯片從測試載臺轉運至所述存儲模塊分類存儲。
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