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龍圖騰網獲悉中國科學院長春光學精密機械與物理研究所申請的專利液晶光譜儀及其測量方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115219030B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210816100.6，技術領域涉及：G01J3/45；該發明授權液晶光譜儀及其測量方法是由呂金光;梁靜秋;陶金;趙瑩澤;鄭凱豐;趙百軒;王惟彪;秦余欣設計研發完成，并于2022-07-12向國家知識產權局提交的專利申請。

本液晶光譜儀及其測量方法在說明書摘要公布了：本發明提供一種液晶光譜儀及其測量方法，其中的光譜儀包括：光源系統、分束器、液晶補償裝置、液晶相位反射鏡和探測器系統；光源系統用于發出一束線偏振光束入射至分束器，被分束器分為透射光束和反射光束，反射光束入射至液晶補償裝置被反射后返回至分束器；透射光束入射至液晶相位反射鏡被反射后具有預設光程差，返回至分束器中與反射光束發生干涉形成干涉光束入射至探測器系統，得到干涉光信號，獲取線偏振光束的光譜信息。本發明避免了傳統傅里葉變換光譜儀的動鏡掃描機構，提高了系統的穩定性和可靠性，并減小了系統的體積和重量。該發明提出的液晶光譜儀結構，具有小型化、靜態化、高穩定性和高環境適應性的特點。

本發明授權液晶光譜儀及其測量方法在權利要求書中公布了：1.一種液晶光譜儀，其特征在于，包括：光源系統、分束器、液晶補償裝置、液晶相位反射鏡和探測器系統； 所述光源系統用于發出一束線偏振光束入射至所述分束器，被所述分束器分為透射光束和反射光束，所述反射光束入射至所述液晶補償裝置被反射后返回至所述分束器；所述透射光束入射至所述液晶相位反射鏡被反射后具有預設光程差，返回至所述分束器中與所述反射光束發生干涉形成干涉光束入射至所述探測器系統，得到干涉光信號，獲取所述線偏振光束的光譜信息； 通過電壓驅動源為所述液晶相位反射鏡的液晶層提供電壓差，用于驅動所述液晶層中的液晶分子的長軸指向方向發生變化； 在加載不同驅動電壓V時，所述液晶層內的液晶分子具有不同的長軸指向傾角θV； 不同的液晶分子長軸指向傾角對應不同的折射率；非尋常光的折射率與液晶指向傾角的關系為； 其中，no、ne分別為無電壓時所述液晶層中尋常光和非尋常光的折射率； 所述驅動電壓V引起的液晶中非尋常光等效折射率為，從而非尋常光在液晶中傳輸時走過的光程為； 其中，L為液晶層的厚度； 所述透射光束經所述液晶相位反射鏡的反射后，相位延遲量為； 所述驅動電壓源采用步進階躍式掃描，即所述液晶層的折射率以相同的步長進行線性變化，折射率為：； 其中，k=1,2,…,N，N為采樣點數； 此時光程差采樣序列為： ； 所述折射率的變化步長滿足以下關系： 其中，λmin為所述線偏振光束中的最小波長。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院長春光學精密機械與物理研究所，其通訊地址為：130033 吉林省長春市經濟技術開發區東南湖大路3888號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。