國儀量子技術(合肥)股份有限公司郭茂森獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉國儀量子技術(合肥)股份有限公司申請的專利檢測原子力顯微鏡探針污染程度和清理原子力顯微鏡探針污染物的方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120427655B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510936254.2,技術領域涉及:G01N21/94;該發明授權檢測原子力顯微鏡探針污染程度和清理原子力顯微鏡探針污染物的方法是由郭茂森;賀成芬;童傲梅;邵睿閣;許克標;賀羽設計研發完成,并于2025-07-08向國家知識產權局提交的專利申請。
本檢測原子力顯微鏡探針污染程度和清理原子力顯微鏡探針污染物的方法在說明書摘要公布了:本申請涉及原子力顯微鏡領域,提出了檢測原子力顯微鏡探針污染程度和清理原子力顯微鏡探針污染物的方法,檢測方法包括:所述探針進針時,獲取進針段的第一熒光信號,獲取終止段的第二熒光信號;比較所述第一熒光信號和所述第二熒光信號,確定所述探針的污染程度。利用本申請的檢測方法可以準確地判斷出原子力顯微鏡探針的污染程度,只需要一次進針即可了解探針的污染程度,效率高且便于定量比較,可以用于探針污染程度的實時監控,從而自動判斷探針的清理時機、以及自動判斷探針清理作業的終點。
本發明授權檢測原子力顯微鏡探針污染程度和清理原子力顯微鏡探針污染物的方法在權利要求書中公布了:1.一種檢測原子力顯微鏡探針污染程度的方法,其特征在于,所述方法包括: 所述探針進針時,獲取進針段的第一熒光信號,獲取終止段的第二熒光信號; 比較所述第一熒光信號和所述第二熒光信號,確定所述探針的污染程度; 所述探針選自透明且內部帶有熒光發光物的探針; 獲得探針在無污染狀態下的熒光強度值相對于時間的第一變化曲線,獲得探針當前的熒光強度值相對于時間的第二變化曲線; 獲得所述第一變化曲線的進針段和終止段之間的熒光強度平均值差值,記為第一差值;獲得所述第二變化曲線的進針段和終止段之間的熒光強度平均值差值,記為第二差值; 基于所述第一差值和所述第二差值的差值或比值確定探針的污染程度; 所述第一變化曲線的進針段對應于探針在無污染狀態下進針的時間段,終止段對應于探針在無污染狀態下終止進針之后的時間段; 所述第二變化曲線的進針段對應于探針在當前狀態下進針的時間段,終止段對應于探針在當前狀態下終止進針之后的時間段。
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