浜松光子學株式會社小林浩之獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉浜松光子學株式會社申請的專利離子檢測器獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN113808904B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-19發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202110647597.9,技術領域涉及:H01J43/04;該發明授權離子檢測器是由小林浩之;高塚清香設計研發完成,并于2021-06-10向國家知識產權局提交的專利申請。
本離子檢測器在說明書摘要公布了:本發明的一種離子檢測器具備:微通道板,其用于接受離子的入射而產生二次電子,將產生的所述二次電子倍增并輸出;多個電子沖擊型二極管,其在面向所述微通道板側的電子入射面具有比所述微通道板的有效區域狹窄的有效區域,用于接受從所述微通道板輸出的所述二次電子的入射,將入射的上述二次電子倍增并且檢測;以及聚焦電極,其配置于所述微通道板與所述電子沖擊型二極管之間,用于朝向所述電子沖擊型二極管聚焦所述二次電子,所述多個電子沖擊型二極管中的彼此相鄰的至少一對上述電子沖擊型二極管以通過彼此的所述電子入射面形成向所述微通道板側或向與所述微通道板的相反側凸出的角部的方式進行配置。
本發明授權離子檢測器在權利要求書中公布了:1.一種離子檢測器,其中, 具備: 微通道板,其用于接受離子的入射而產生二次電子,將產生的所述二次電子倍增并輸出; 多個電子沖擊型二極管,其在面向所述微通道板側的電子入射面具有比所述微通道板的有效區域狹窄的有效區域,用于接受從所述微通道板輸出的所述二次電子的入射,將入射的所述二次電子倍增并且檢測;以及 聚焦電極,其配置于所述微通道板與所述電子沖擊型二極管之間,用于朝向所述電子沖擊型二極管聚焦所述二次電子, 所述多個電子沖擊型二極管中的彼此相鄰的至少一對所述電子沖擊型二極管,以通過彼此的所述電子入射面形成向所述微通道板側或向與所述微通道板的相反側凸出的角部的方式進行配置。
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