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龍圖騰網獲悉西安電子科技大學廣州研究院申請的專利一種針對存儲模塊故障注入集縮減的方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114694735B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-19發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210255208.2，技術領域涉及：G11C29/10；該發明授權一種針對存儲模塊故障注入集縮減的方法是由劉毅;廖劍;徐長卿設計研發完成，并于2022-03-15向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種針對存儲模塊故障注入集縮減的方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種針對存儲模塊故障注入集縮減的方法，涉及輻射效應仿真領域。使用預設的仿真測試程序對目標集成電路的存儲模塊進行測試，得到讀寫信息文件；使用預設的讀寫信息分析算法分析讀寫信息文件，確定存儲模塊在測試期間的無效注入時間區間；對故障注入集進行故障注入有效性分析，去除故障注入集中處于無效注入時間區間以及無效電路節點的注入故障，得到縮減后的故障注入集。通過存儲模塊的讀寫信息文件確定無效注入時間區間，去除故障注入集中處于無效注入時間區間以及無效電路節點的注入故障，從時間和空間兩個維度縮減故障注入集，減少仿真時間成本，提高仿真效率。

本發明授權一種針對存儲模塊故障注入集縮減的方法在權利要求書中公布了：1.一種針對存儲模塊故障注入集縮減的方法，其特征在于，所述方法包括： 使用預設的仿真測試程序對目標集成電路的存儲模塊進行測試，得到所述存儲模塊的讀寫信息文件； 使用預設的讀寫信息分析算法分析所述讀寫信息文件，確定所述存儲模塊在測試期間的無效注入時間區間； 針對所述存儲模塊隨機生成不同時間以及不同電路節點的注入故障，作為故障注入集； 對所述故障注入集進行故障注入有效性分析，去除所述故障注入集中處于所述無效注入時間區間以及無效電路節點的注入故障，得到縮減后的故障注入集；所述無效電路節點為所述目標集成電路中仿真測試程序未使用到的電路節點； 使用預設的讀寫信息分析算法分析所述讀寫信息文件，確定所述存儲模塊在測試期間的無效注入時間區間，包括： 使用預設的讀寫信息分析算法分析所述讀寫信息文件，獲取所述存儲模塊中每個存儲地址的讀操作和寫操作的時間區間，作為操作時間區間，并將測試期間除所述操作時間區間之外的時間區間作為間隔時間區間； 針對每個存儲地址，確定所述寫操作之前相鄰的間隔時間區間，作為無效注入時間區間； 以所述存儲模塊的每一存儲地址為鍵，以該存儲地址的所述無效注入時間區間為值，生成無效哈希數組。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人西安電子科技大學廣州研究院，其通訊地址為：510555 廣東省廣州市黃埔區中新知識城海絲中心B5、B6、B7棟；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。