達波科技(上海)有限公司薛成龍獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉達波科技(上海)有限公司申請的專利一種晶圓鍵合方法及其在復(fù)合襯底制備中應(yīng)用獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN120076698B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-16發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202510278119.3,技術(shù)領(lǐng)域涉及:H10N30/03;該發(fā)明授權(quán)一種晶圓鍵合方法及其在復(fù)合襯底制備中應(yīng)用是由薛成龍;柏文文;王含冠;劉培森;肖博遠;周鑫辰;高嘉駿;楊凱;楊朋輝;華千慧;國洪辰;崔健設(shè)計研發(fā)完成,并于2025-03-10向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本一種晶圓鍵合方法及其在復(fù)合襯底制備中應(yīng)用在說明書摘要公布了:本申請涉及一種晶圓鍵合方法及其在復(fù)合襯底制備中應(yīng)用,屬于復(fù)合襯底的加工技術(shù)領(lǐng)域。本申請晶圓鍵合方法包括:1)將壓電晶圓進行離子注入,得到晶圓注入片,晶圓注入片依次包括薄膜層、注入層和余質(zhì)層;2)將晶圓注入片的薄膜層與支撐襯底進行分隔處理,并使晶圓注入片的第一鍵合面和支撐襯底的第二鍵合面相對設(shè)置且對準,同時對晶圓注入片和支撐襯底進行第一次加熱,相互靠近并進行鍵合處理;3)對第一鍵合面和第二鍵合面施加第一壓力,并保持一段時間;4)將第一壓力降至第二壓力,并進行第二次加熱;5)進行第三次加熱,并保溫一段時間以使薄膜層與余質(zhì)層分離,得到復(fù)合襯底。本方法能提高復(fù)合襯底品質(zhì)和良率,翹曲低、孔洞數(shù)量少。
本發(fā)明授權(quán)一種晶圓鍵合方法及其在復(fù)合襯底制備中應(yīng)用在權(quán)利要求書中公布了:1.一種晶圓鍵合方法,其特征在于,所述晶圓鍵合方法包括如下步驟: 1準備壓電晶圓和支撐襯底; 2將壓電晶圓進行離子注入,得到晶圓注入片,晶圓注入片依次包括薄膜層、注入層和余質(zhì)層; 3將晶圓注入片的薄膜層與支撐襯底進行分隔處理,并使晶圓注入片的第一鍵合面和支撐襯底的第二鍵合面相對設(shè)置且對準,同時對晶圓注入片和支撐襯底進行第一次加熱,第一次加熱至65~75℃,相互靠近并進行鍵合處理; 4對第一鍵合面和第二鍵合面施加第一壓力,第一壓力范圍為4000~6000N,并保持一段時間; 5將第一壓力降至第二壓力,第二壓力范圍為1500~2500N,并進行第二次加熱,第二次加熱溫度240~280℃,并保持20~40min; 6進行第三次加熱,第三次加熱溫度160~200℃,并保溫1.5~3h以使薄膜層與余質(zhì)層分離,得到復(fù)合襯底。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人達波科技(上海)有限公司,其通訊地址為:201309 上海市浦東新區(qū)中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)臨港新片區(qū)江山路3699號5幢1層;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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