買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！

龍圖騰網獲悉北京晉輝科技有限公司申請的專利基于實時數據驅動的動態關鍵區域過程檢驗方法和系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120338618B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510828929.1，技術領域涉及：G06Q10/0639；該發明授權基于實時數據驅動的動態關鍵區域過程檢驗方法和系統是由魯金殿;孫寧波;王慶棟設計研發完成，并于2025-06-20向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于實時數據驅動的動態關鍵區域過程檢驗方法和系統在說明書摘要公布了：本申請提供一種基于實時數據驅動的動態關鍵區域過程檢驗方法和系統，涉及設備生產的過程檢驗管理領域，該方法包括：根據工藝行為數據所屬的參數取值范圍將待檢驗零件劃分為不同的質量批次；在同一質量批次中，根據同時間段生產目標零件的工藝行為數據的多個采集時間戳對應的零件加工位置構建工藝行為數據與目標零件的加工區域的映射關系；基于映射關系和工藝行為數據的波動特征構建目標幾何區域集合；依據風險預測模型確定目標幾何區域集合中每個目標幾何區域對應的缺陷風險評分，進而確定過程檢驗的目標關鍵區域。實施該方法，可以確保檢驗資源更精準地投入到高風險區域，提升了過程檢驗中資源的使用效率。

本發明授權基于實時數據驅動的動態關鍵區域過程檢驗方法和系統在權利要求書中公布了：1.一種基于實時數據驅動的動態關鍵區域過程檢驗方法，應用于設備檢驗控制系統，其特征在于，所述方法包括： 依據所有待檢驗零件對應的工藝行為數據與預設理想工藝行為數據的差值計算所述工藝行為數據對應的參數波動值； 基于預設比例將所述參數波動值劃分為多個參數波動范圍，得到對應的多個參數取值范圍，不同所述參數取值范圍對應的加工區域劃分粒度不全相同； 基于零件的加工特征尺寸和加工精度要求，構建加工區域的多級細粒度劃分等級，每個所述細粒度劃分等級對應不同的區域劃分尺寸； 基于歷史加工數據中的參數波動值分布特征設置每個所述細粒度劃分等級對應的預設參數范圍； 計算每個所述參數取值范圍內的參數波動值在所述預設參數范圍中的重疊占比； 將所述重疊占比最大的預設參數范圍對應的細粒度劃分等級確定為參數取值范圍對應的細粒度劃分等級； 根據待檢驗零件對應的工藝行為數據所屬的參數取值范圍，將所述待檢驗零件劃分為不同的質量批次，所述工藝行為數據通過部署在生產設備上的多類型傳感器在所述待檢驗零件生產過程中采集得到，不同所述質量批次對應不同加工區域劃分規則； 在同一所述質量批次中，根據同時間段生產的目標零件的工藝行為數據和所述工藝行為數據的多個采集時間戳對應的零件加工位置構建所述工藝行為數據與目標零件的加工區域的映射關系，所述加工區域包括多個加工位置； 基于所述映射關系，從所述目標零件對應的多個加工區域中選擇采集時間戳對應工藝行為數據的波動特征超過預設閾值的目標加工區域構建目標幾何區域集合，包括：基于所述映射關系，依據每個加工區域對應的一個或多個連續采集時間戳構建每個所述連續采集時間戳對應的工藝行為數據序列；當檢測到所述加工區域對應的任一工藝行為數據序列的波動特征超過預設閾值時，將所述加工區域標記為目標加工區域；依據所有所述目標加工區域構建目標幾何區域集合，所述波動特征包括波動頻率、波動幅度和波動趨勢； 將所述目標幾何區域集合中每個目標幾何區域對應的工藝行為數據輸入預設的風險預測模型，輸出每個所述目標幾何區域對應的缺陷風險評分，所述風險預測模型依據歷史工藝行為數據和對應歷史缺陷風險評分訓練得到； 將所述缺陷風險評分超過預設風險閾值的所述目標幾何區域確定為過程檢驗的目標關鍵區域進行資源分配。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京晉輝科技有限公司，其通訊地址為：102200 北京市昌平區回龍觀東大街338號創客廣場B5-035；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。