長春理工大學張健獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉長春理工大學申請的專利一種太陽直接輻射光譜測量方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120445406B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-16發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510910172.0,技術領域涉及:G01J3/28;該發明授權一種太陽直接輻射光譜測量方法是由張健;王璐;孫景睿;張宇;趙斌;楊松洲;張國玉;何洋;張可;任殿武;楊東澎;彭增設計研發完成,并于2025-07-02向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種太陽直接輻射光譜測量方法在說明書摘要公布了:一種太陽直接輻射光譜測量方法,屬于輻射光譜測量技術領域,為了解決目前的測量系統均依賴于昂貴又復雜的雙軸移動跟蹤裝置,存在維護成本高、傳遞環節多以及誤差大的問題,發明包括以下步驟:設計極軸旋轉式太陽直接輻射光譜測量系統的框架、PAR?SDNSIM優化設計、光譜輻射強度重建與太陽光譜測量精度評估和實驗結果分析,本發明構建了一種由SDRCFM和SRMS組成的PAR?SDNSIM新架構,實現了全年全緯度區間內無需移動跟蹤的太陽直接輻射光譜測量,進一步完善了太陽直接輻射光譜測量理論體系。
本發明授權一種太陽直接輻射光譜測量方法在權利要求書中公布了:1.一種太陽直接輻射光譜測量方法,其特征在于,具體步驟如下: S1:設計極軸旋轉式太陽直接輻射光譜測量系統的框架; S2:PAR-SDNSIM優化設計; S3:光譜輻射強度重建與太陽光譜測量精度評估; S4:實驗結果分析; S1中所述的設計極軸旋轉式太陽直接輻射光譜測量系統的框架,具體步驟如下: S101:構建PAR-SDNSIM總體架構; S102:SDRCFM的離散與重構; S103:時空尺度光譜輻射強度重建鏈路; S101中所述的構建PAR-SDNSIM總體架構,具體步驟如下: S1011:利用極軸旋轉跟蹤裝置抵消太陽方位角變化,并設計能夠將不同入射角的太陽直射光束反射進入SRMS的自由曲面面型,使得構建的PAR-SDNSIM總體架構分為SDRCFM和SRMS兩部分; S1012:經SDRCFM反射的兩分日正午時刻太陽直射光束與此時的入射光束垂直,且反射光束作為SDRCFM的光軸和旋轉軸; S1013:分析典型的色散結構,且SRMS選用交叉式Czerny-Turner型色散結構; S1014:PAR-SDNSIM根據其安裝地的緯度進行傾斜配置,且SDRCFM光軸垂直經過SRMS的狹縫位置,不同入射角的光束經SDRCFM表面反射調制后,匯聚在SRMS狹縫位置上的光斑區域,此后,經過狹縫的光束通過SRMS的準直反射鏡、衍射光柵以及聚焦反射鏡,在CCD探測器上形成衍射譜線,進而得到太陽直接輻射光譜分布信息。
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