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龍圖騰網獲悉深圳市華測半導體設備有限公司申請的專利基于并行異步測試的模擬IC測試異常定位方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120468630B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510968810.4，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權基于并行異步測試的模擬IC測試異常定位方法及系統是由朱培;余秀青設計研發完成，并于2025-07-15向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于并行異步測試的模擬IC測試異常定位方法及系統在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于并行異步測試的模擬IC測試異常定位方法及系統，旨在提高復雜模擬IC測試中異常通道的定位效率與準確性。該方法首先獲取模擬IC在測試過程中多通道模數轉換器（ADC）的數據吞吐能力信息，結合該信息制定并行異步測試方案。隨后，采集各ADC通道在測試過程中的傳輸數據，構建通道響應特征矩陣，并計算各通道的時序漂移參數。利用譜聚類算法對時序漂移參數進行聚類，識別出異常漂移通道聚類簇。最終，根據聚類結果精準定位出測試中存在異常的通道。該方法具有高并行性和自適應能力，適用于大規模模擬IC的快速測試與異常分析，在提高測試效率和降低測試成本方面具有顯著優勢。

本發明授權基于并行異步測試的模擬IC測試異常定位方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種基于并行異步測試的模擬IC測試異常定位方法，其特征在于，包括以下步驟： 獲取模擬IC測試過程中多通道模數轉換器的數據吞吐能力信息，根據所述數據吞吐能力信息確定模擬IC的并行異步測試方案，具體為： 獲取預設數量標準模擬IC輸入目標測試平臺進行預測試操作，獲取預測試過程中多通道模數轉換器的測試輸出數據，所述測試輸出數據包括數據處理延遲信息、緩存積壓率、模擬IC電流與電壓輸出信號變化數據； 對所述輸出信號變化數據進行平滑度分析，確定輸出信號的信號采樣完整性和信號跳變程度； 根據所述信號采樣完整性和信號采樣跳變程度確定每個ADC通道的數據接口異常采樣頻次，根據所述異常采樣頻次對每個ADC通道進行數據采樣質量評估，得到數據采樣質量數據； 將所述數據采樣質量數據與所述數據處理延遲信息、緩存積壓率進行相關性分析，確定多通道模數轉換器的數據吞吐能力信息； 獲取單個模擬IC測試的數據處理量信息，根據所述數據處理量信息和數據吞吐能力信息確定并行異步測試的模擬IC數量，構建并行異步測試方案； 獲取模擬IC在并行異步測試過程中的每一ADC通道的傳輸數據，根據所述傳輸數據構建通道響應特征矩陣，根據所述通道響應特征矩陣計算每個通道的時序漂移參數； 基于譜聚類算法對所述時序漂移參數進行聚類操作，提取異常漂移通道聚類簇； 根據所述異常漂移通道聚類簇對模擬IC并行異步測試過程中的測試異常通道進行定位。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人深圳市華測半導體設備有限公司，其通訊地址為：518000 廣東省深圳市羅湖區筍崗街道田心社區寶崗北路美芝大華電視廠1號廠房1棟4層428；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。