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龍圖騰網(wǎng)獲悉中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國賽寶實驗室))申請的專利器件內(nèi)部氣氛取樣裝置、方法、設(shè)備、存儲介質(zhì)和程序產(chǎn)品獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN118603676B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-12發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202410801445.3，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N1/22；該發(fā)明授權(quán)器件內(nèi)部氣氛取樣裝置、方法、設(shè)備、存儲介質(zhì)和程序產(chǎn)品是由賴燦雄;周斌;肖慶中;董顯山;彭澤亞;恩云飛;路國光;吳謀智;黃鑫龍設(shè)計研發(fā)完成，并于2024-06-20向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本器件內(nèi)部氣氛取樣裝置、方法、設(shè)備、存儲介質(zhì)和程序產(chǎn)品在說明書摘要公布了：本申請涉及一種器件內(nèi)部氣氛取樣裝置、方法、設(shè)備、存儲介質(zhì)和程序產(chǎn)品。所述裝置包括取樣腔和穿刺模塊，其中：所述取樣腔的腔體上開設(shè)有穿刺孔；所述穿刺模塊設(shè)置于所述取樣腔內(nèi)，所述穿刺模塊用于在待測器件的殼面與所述取樣腔外表面相貼合且覆蓋所述穿刺孔的情況下，經(jīng)過所述穿刺孔，刺破所述待測器件中的充氣空腔；所述取樣腔用于收集所述充氣空腔中逸出的待測氣氛。采用本方法能夠提高器件內(nèi)部氣氛檢測準(zhǔn)確性。

本發(fā)明授權(quán)器件內(nèi)部氣氛取樣裝置、方法、設(shè)備、存儲介質(zhì)和程序產(chǎn)品在權(quán)利要求書中公布了：1.一種器件內(nèi)部氣氛取樣裝置，其特征在于，所述裝置包括取樣腔、轉(zhuǎn)矩傳感器、穿刺模塊、電機控制模塊和傳動機構(gòu)，所述傳動機構(gòu)的一端與所述穿刺模塊相連接，所述傳動機構(gòu)的另一端與所述電機控制模塊相連接，其中： 所述取樣腔的腔體上開設(shè)有穿刺孔； 所述轉(zhuǎn)矩傳感器用于在所述穿刺模塊往復(fù)運動的過程中，采集所述電機控制模塊的當(dāng)前轉(zhuǎn)矩值； 所述電機控制模塊用于在檢測到所述當(dāng)前轉(zhuǎn)矩值超過預(yù)設(shè)第一轉(zhuǎn)矩限值的情況下，控制所述傳動機構(gòu)帶動所述穿刺模塊沿當(dāng)前運動方向繼續(xù)移動第一位移值，或者控制所述傳動機構(gòu)帶動所述穿刺模塊沿當(dāng)前運動方向繼續(xù)移動至所述當(dāng)前轉(zhuǎn)矩值達到預(yù)設(shè)第二轉(zhuǎn)矩限值，預(yù)設(shè)第二轉(zhuǎn)矩限值小于預(yù)設(shè)第一轉(zhuǎn)矩限值，其中，所述穿刺模塊在沿當(dāng)前運動方向繼續(xù)移動第一位移值之后，或者在沿當(dāng)前運動方向繼續(xù)移動達到預(yù)設(shè)第二轉(zhuǎn)矩限值之后，刺破待測器件中的充氣空腔，所述第一轉(zhuǎn)矩限值、所述第二轉(zhuǎn)矩限值和所述第一位移值基于待測器件的殼面的材料或型號確定； 所述穿刺模塊設(shè)置于所述取樣腔內(nèi)，所述穿刺模塊用于在待測器件的殼面與所述取樣腔外表面相貼合且覆蓋所述穿刺孔的情況下，經(jīng)過所述穿刺孔，刺破所述待測器件中的充氣空腔； 所述取樣腔用于收集所述充氣空腔中逸出的待測氣氛。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國賽寶實驗室))，其通訊地址為：511370 廣東省廣州市增城區(qū)朱村街朱村大道西78號；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。