買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！

龍圖騰網獲悉華南農業大學申請的專利基于光照條件的導軌表面缺陷檢測方法及其相關設備獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119574441B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411747486.5，技術領域涉及：G01N21/01；該發明授權基于光照條件的導軌表面缺陷檢測方法及其相關設備是由曾志雄;吳灶銘;譚深文;謝潤濤;董釗杰;樊杰坤;肖鋒華設計研發完成，并于2024-12-02向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于光照條件的導軌表面缺陷檢測方法及其相關設備在說明書摘要公布了：本申請提供一種基于光照條件的導軌表面缺陷檢測方法及其相關設備，當需要檢測目標導軌的缺陷情況時，本申請實施例提供的方法可以通過分析不同光照序列下目標導軌待檢測區域的圖像數據來確定目標導軌的缺陷情況，通過光照設備，有效實現在檢測目標導軌過程中實時調節光照設備的光照參數來采集不同的圖像數據，可以更加全面分析目標導軌的缺陷情況，有效降低對目標導軌的缺陷情況檢測成本，相比于現有的技術方案，本申請實施例提供的方法可以提高對目標導軌的檢測結果的準確度，性能更優。

本發明授權基于光照條件的導軌表面缺陷檢測方法及其相關設備在權利要求書中公布了：1.一種基于光照條件的導軌表面缺陷檢測方法，其特征在于，包括： 確定目標導軌的待檢測區域； 改變針對所述目標導軌的待檢測區域的光照序列，并采集不同光照序列下所述目標導軌的待檢測區域的第一圖像數據集，其中，所述第一圖像數據集包括至少一個所述目標導軌的待檢測區域在每一組光照序列對應下的第一圖像數據，其中，所述光照序列包括光照單元的位置、光照的強度以及光照的色溫； 對所述第一圖像數據集進行預處理，得到第二圖像數據集； 將所述第二圖像數據集輸入預設的缺陷檢測模型進行檢測，得到所述目標導軌的檢測結果，其中，所述目標導軌的檢測結果包括所述目標導軌中存在缺陷的位置，所述預設的缺陷檢測模型以訓練導軌的待檢測區域對應的圖像數據集作為訓練樣本，以所述訓練導軌的待檢測區域對應的圖像數據集對應的檢測結果作為樣本標簽，訓練得到； 多尺度分析所述目標導軌的待檢測區域的檢測結果中包括的所述目標導軌呈現缺陷的概率，以將所述目標導軌呈現缺陷的概率的數據在不同尺度下進行平滑處理，生成多尺度目標信號； 對每個尺度下的目標信號進行局部峰值檢測，標記每一個尺度下的目標信號中所有局部極大值所對應所述目標導軌的位置； 統計不同尺度下所述目標導軌的同一位置的局部峰值出現頻率，生成所述目標導軌的缺陷峰值頻率分布結果； 根據所述目標導軌的缺陷峰值頻率分布結果，確定每個尺度下符合預設的條件的峰值作為所述目標導軌呈現缺陷概率的所有峰值； 依據所述目標導軌呈現缺陷的概率中的所有峰值，設置用于對所述目標導軌的缺陷進行再次檢測的光照序列。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人華南農業大學，其通訊地址為：510000 廣東省廣州市天河區五山路483號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。