散裂中子源科學中心;中國科學院高能物理研究所楊仁俊獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉散裂中子源科學中心;中國科學院高能物理研究所申請的專利一種基于正交狹縫的束流四維發射度測量儀及測量方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN119738864B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202411937711.1,技術領域涉及:G01T1/29;該發明授權一種基于正交狹縫的束流四維發射度測量儀及測量方法是由楊仁俊;陳偉文;穆罕默德·阿卜杜勒·拉赫曼;徐智虹;劉仁洪;李芳;黃蔚玲;邱瑞陽;曾磊;田建民設計研發完成,并于2024-12-26向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種基于正交狹縫的束流四維發射度測量儀及測量方法在說明書摘要公布了:本發明公開了一種基于正交狹縫的束流四維發射度測量儀及測量方法,帶電粒子束從第一狹縫板遠離第二狹縫板一側入射至狹縫組件,帶電粒子束經第一狹縫透射后形成第一束流團至第二狹縫板,第一束流團經第二狹縫透射后形成第二束流團至熒光采集組件;熒光采集組件包括熒光屏和圖像采集模塊,熒光屏用于接收第二束流團并產生熒光,圖像采集模塊用于采集第二束流團轟擊熒光屏發射的熒光圖案,數據處理組件用于根據熒光圖像計算束流的相空間分布,根據相空間分布測量帶電粒子束的發射度。本發明提供的束流四維發射度測量儀通過正交方向的狹縫對束流進行分割可以獲得更加完整的四維相空間分布,從而增加束流發射度的測量完整度和精度。
本發明授權一種基于正交狹縫的束流四維發射度測量儀及測量方法在權利要求書中公布了:1.一種基于正交狹縫的束流四維發射度測量儀,其特征在于,包括狹縫組件、熒光采集組件和數據處理組件; 所述狹縫組件包括沿第一方向層疊設置的第一狹縫板和第二狹縫板,所述第一狹縫板包括第一狹縫;所述第二狹縫板包括第二狹縫,所述第一狹縫沿第二方向延伸,所述第二狹縫沿第三方向延伸,所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向兩兩垂直,所述第一方向與所述第一狹縫板所在平面垂直; 帶電粒子束從所述第一狹縫板遠離所述第二狹縫板一側入射至所述狹縫組件,所述帶電粒子束經所述第一狹縫透射后形成第一束流團至所述第二狹縫板,所述第一束流團經所述第二狹縫透射后形成第二束流團至所述熒光采集組件; 所述熒光采集組件和所述數據處理組件電連接,所述熒光采集組件包括熒光屏和圖像采集模塊,所述熒光屏用于接收所述第二束流團并產生熒光,所述圖像采集模塊用于采集所述第二束流團轟擊熒光屏發射的熒光圖像,所述數據處理組件用于根據所述熒光圖像計算所述束流的相空間分布,根據所述相空間分布測量所述帶電粒子束的發射度。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人散裂中子源科學中心;中國科學院高能物理研究所,其通訊地址為:523000 廣東省東莞市大朗鎮中子源路1號;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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