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龍圖騰網獲悉中國石油大學(華東)申請的專利基于激光誘導等離子體探針的亞波長成像系統及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120427600B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510918668.2，技術領域涉及：G01N21/71；該發明授權基于激光誘導等離子體探針的亞波長成像系統及方法是由王斌;寧興凱;張炳洋;高睦志設計研發完成，并于2025-07-04向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于激光誘導等離子體探針的亞波長成像系統及方法在說明書摘要公布了：本發明涉及電磁波成像技術領域，公開一種基于激光誘導等離子體探針的亞波長成像系統及方法。成像系統包括激光調控模塊、高電阻半導體基底、微波近場散射模塊和數據采集模塊，激光調控模塊由激光器、振鏡和透鏡組件，激光器、振鏡、透鏡組件、高電阻半導體基底和微波近場散射模塊依次設置，微波近場散射模塊與數據采集模塊連接。成像方法包括形成暫態等離子體區域；設定數據采集模塊的掃描點數、設定掃描矩陣；控制振鏡將激光光斑跳轉至當前坐標點；數據采集模塊采集當前點信號的反射參數S11；對所采集的全部掃描點的反射參數S11數據進行統一處理。本發明實現了亞波長尺度的非接觸式高分辨率成像，提高了系統穩定性、兼容性與掃描效率。

本發明授權基于激光誘導等離子體探針的亞波長成像系統及方法在權利要求書中公布了：1.一種基于激光誘導等離子體探針的亞波長成像系統的成像方法，其特征是：所述基于激光誘導等離子體探針的亞波長成像系統包括激光調控模塊、高電阻半導體基底、微波近場散射模塊和數據采集模塊，激光調控模塊由激光器、振鏡和透鏡組件，激光器、振鏡、透鏡組件、高電阻半導體基底和微波近場散射模塊依次設置，微波近場散射模塊與數據采集模塊連接，激光器和振鏡均與激光振鏡控制卡連接； 所述高電阻半導體基底為本征硅片，介電常數為εr,電阻率不低于2.3×105Ωcm，且其厚度d為電磁波在高電阻半導體基底中的半波長的整數倍，以產生自諧振； 所述微波近場散射模塊為能夠提供TM模式近場電磁波輻射的微波元件；所述數據采集模塊為微波信號發射與接收一體化裝置，包括矢量網絡分析儀或信號源與頻譜儀組合，采集反射參數S11的幅值曲線與相位曲線，由幅值曲線中獲得諧振頻率； 上述基于激光誘導等離子體探針的亞波長成像系統的成像方法，包括以下步驟： （1）將被測介質貼附于高電阻半導體基底表面靠近微波近場散射模塊的一側； （2）通過激光器、振鏡和透鏡將激光聚焦于高電阻半導體基底表面，激光照射后，根據光生等離子體探針原理，在指定位置于t1時間內生成高濃度光生載流子，形成暫態等離子體區域； （3）對數據采集模塊進行端口校準及頻率校準，確保反射參數S11測量準確； （4）設定數據采集模塊的掃描點數不少于201點，數據采集模塊中頻帶寬不低于100kHz，以確保頻率分辨率和信號質量； （5）設定掃描矩陣為m×n，初始化行列坐標計數器i=0，j=0； （6）控制振鏡將激光光斑跳轉至當前坐標點（i,j）； （7）等待時間t； （8）數據采集模塊采集當前點信號的反射參數S11，并保存數據，獲得反射參數S11的幅值曲線與相位曲線，進而提取諧振頻率及對應的幅值與相位； （9）列坐標自增：j=j+1； （10）判斷是否到達當前行末尾，j=n，若否則跳轉回步驟（6）繼續掃描當前行；若是則執行步驟（11），行坐標i=i+1，列坐標j=0，繼續下一行掃描； （11）判斷是否完成所有行掃描，i=m，若否則返回步驟（6）；若是則所有點已完成測量； （12）對步驟（8）所采集的全部掃描點的反射參數S11數據進行統一處理；針對每一個掃描點，從其反射響應中提取關鍵特征參數，包括但不限于：某特定頻率下不同掃描點的幅值、某特定頻率下不同掃描點的相位值或不同掃描空間位置的諧振頻率；上述任一參數均能作為該點的物理特征指標，用于后續二維圖像重構。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國石油大學(華東)，其通訊地址為：266580 山東省青島市黃島區長江西路66號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。