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龍圖騰網獲悉電子科技大學申請的專利一種基于光學檢測技術的磁流體密封可靠性檢測系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120445552B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510953749.6，技術領域涉及：G01M3/38；該發明授權一種基于光學檢測技術的磁流體密封可靠性檢測系統是由李欣康;劉慶設計研發完成，并于2025-07-11向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于光學檢測技術的磁流體密封可靠性檢測系統在說明書摘要公布了：本發明提供了一種基于光學檢測技術的磁流體密封可靠性檢測系統，包括轉輪、旋轉主軸、轉子、密封支撐部件、氣體、左級靴、永磁體、右級靴、第一級光源發生器支架、第一級光源、第一級磁流體、第一級視頻捕捉單元、第二級光源、信號電纜、組件支架、綜合分析器、光線、磁場磁力線、壓力傳感器、第二級磁流體、第二級視頻捕捉單元、光源發生器、流道、轉子空腔、密封空腔和第二級光源發生器支架，通過第一級光源發射，加熱第一級磁流體，利用磁流體馬蘭戈尼效應，將信息傳輸到第一級視頻捕捉單元，第一級視頻捕捉單元將信號傳輸給綜合分析器。通過光?磁流體?熱?磁性液體運動加劇?預測裝置是否泄漏的過程，可以提前預知磁流體密封裝置的性能和狀態，實現密封裝置可靠性的準確檢測。

本發明授權一種基于光學檢測技術的磁流體密封可靠性檢測系統在權利要求書中公布了：1.一種基于光學檢測技術的磁流體密封可靠性檢測系統，其特征在于，所述系統包括：轉輪、旋轉主軸、轉子、密封支撐部件、氣體、左級靴、永磁體、右級靴、第一級光源發生器支架、第一級光源、第一級磁流體、第一級視頻捕捉單元、第二級光源、信號電纜、組件支架、綜合分析器、光線、磁場磁力線、壓力傳感器、第二級磁流體、第二級視頻捕捉單元、光源發生器、流道、轉子空腔、密封空腔和第二級光源發生器支架； 轉輪為多葉片型，轉輪與旋轉主軸剛性連接，旋轉主軸與轉子剛性連接，轉輪在氣體的水平流動沖擊下高速旋轉，轉輪帶動旋轉主軸同步旋轉，旋轉主軸帶動轉子同步旋轉，氣體在流道中高速流動，直接與轉輪沖擊接觸，轉子被密封支撐部件包裹，其形成的空間是密閉的轉子空腔，密封支撐部件呈圓柱形狀，左級靴、永磁體、右級靴裝配到密封支撐部件上，左級靴和右級靴是圓形的傳輸磁場，永磁體是圓形的發出磁場，左級靴和右級靴之間有間隙，間隙中充滿磁流體，即第一級磁流體和第二級磁流體，磁流體起到密封作用，旋轉主軸、第一級磁流體、左級靴、永磁體、右級靴、第二級磁流體形成了一個密閉的密封空腔； 第一級光源發生器支架和第一級光源均在密封支撐部件與旋轉主軸之間，第一級視頻捕捉單元在密封空腔中，第二級光源和第二級光源發生器支架在密封空腔中，第二級視頻捕捉單元在轉子空腔中，壓力傳感器布置在第一級視頻捕捉單元的支架與第二級光源發生器支架的連接部件上，用于檢測密封空腔的壓力變化，綜合分析器布置在流道外的中央控制室，綜合分析器通過信號電纜與第一級視頻捕捉單元和第二級視頻捕捉單元連接，第一級視頻捕捉單元與第二級光源通過組件支架和右級靴連接在一起，組件支架起固定連接的作用。

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