北京航星機器制造有限公司魏增輝獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉北京航星機器制造有限公司申請的專利一種安檢設備中DR透視圖像的畸變校正方法及裝置獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN114004765B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202111299823.5,技術領域涉及:G06T5/80;該發明授權一種安檢設備中DR透視圖像的畸變校正方法及裝置是由魏增輝;孫翠麗;李保磊;莫陽;丁潔;趙雷;劉宇;吳凱;溫子寬;徐圓飛設計研發完成,并于2021-11-04向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種安檢設備中DR透視圖像的畸變校正方法及裝置在說明書摘要公布了:本發明涉及一種安檢設備中DR透視圖像的畸變校正方法及裝置,屬于安檢圖像校正技術領域,解決了現有安檢畸變校正方法中,設定的虛擬探測器位置固定,未考慮物體高度的影響,造成得到的DR透視圖像失真,判圖可靠性和效率較低的問題。方法包括:獲取不包含目標物體的第一CT斷層圖像和包含目標物體的各第二CT斷層圖像;根據所述第一CT斷層圖像和各第二CT斷層圖像,得到目標物體的高度;基于目標物體的高度設置所述安檢設備DR掃描成像中虛擬探測器的位置;將DR探測器接收的目標物體的原始DR透視圖像映射到虛擬探測器上,得到目標物體畸變校正后的DR透視圖像。
本發明授權一種安檢設備中DR透視圖像的畸變校正方法及裝置在權利要求書中公布了:1.一種安檢設備中DR透視圖像的畸變校正方法,其特征在于,包括以下步驟: 獲取不包含目標物體的第一CT斷層圖像和包含目標物體的各第二CT斷層圖像; 根據所述第一CT斷層圖像和各第二CT斷層圖像,得到目標物體的高度;包括: 依次基于所述第一CT斷層圖像,對各第二CT斷層圖像分別進行處理,確定每一第二CT斷層圖像中目標物體的高度;具體為:分別將所述第一CT斷層圖像和當前第二CT斷層圖像的每一行的像素值進行累加并計算平均值,得到第一一維斷層數據和第二一維斷層數據;將第一一維斷層數據分別與當前第二一維斷層數據相減并取絕對值,得到差異斷層數據;基于設定的閾值,對所述差異斷層數據進行二值化處理,得到二值化差異斷層數據;統計所述二值化差異斷層數據中像素值連續為1的數據的個數,選取個數中的最大值作為高度數據個數;將高度數據個數與像素長度相乘,得到當前第二斷層數據中物體的高度; 計算各第二CT斷層圖像中目標物體高度的平均值,將該平均值作為目標物體的高度;或將各第二CT斷層圖像中目標物體高度從大到小進行排序,計算其中預設比例個數的目標物體高度的平均值,將該平均值作為目標物體的高度; 基于目標物體的高度設置所述安檢設備DR掃描成像中虛擬探測器的位置; 將DR探測器接收的目標物體的原始DR透視圖像映射到虛擬探測器上,得到目標物體畸變校正后的DR透視圖像。
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