合肥智芯半導體有限公司何學文獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉合肥智芯半導體有限公司申請的專利ADC校準電路及其控制方法、存儲介質獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN114189245B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202111555305.5,技術領域涉及:H03M1/10;該發明授權ADC校準電路及其控制方法、存儲介質是由何學文;時鵬;王志林設計研發完成,并于2021-12-17向國家知識產權局提交的專利申請。
本ADC校準電路及其控制方法、存儲介質在說明書摘要公布了:本發明公開了一種ADC校準電路及其控制方法、存儲介質,該電路包括校準采樣子電路和補償子電路;校準采樣子電路包括模數轉換器,校準采樣子電路用于通過模數轉換器向補償子電路提供第一參考值、第二參考值和待校準值;補償子電路用于根據第一參考值、第二參考值對待校準值進行校準,得到相應的數字校準值。該電路通過雙定點采樣的方式提供用于校準的第一參考值、第二參考值,對待校準值進行校準補償,有效降低了失調誤差和增益誤差對ADC轉換精度的影響,有效提高了ADC的轉換精度,且具有易于在電路設計中實現和集成,且適用更復雜的應用場景的優點。
本發明授權ADC校準電路及其控制方法、存儲介質在權利要求書中公布了:1.一種ADC校準電路,其特征在于,所述電路包括:校準采樣子電路和補償子電路; 所述校準采樣子電路包括模數轉換器,所述校準采樣子電路用于通過所述模數轉換器向所述補償子電路提供第一參考值、第二參考值和待校準值; 所述補償子電路用于根據所述第一參考值、所述第二參考值對所述待校準值進行校準,得到相應的數字校準值; 所述補償子電路包括: 第一寄存器,所述第一寄存器的輸入端與所述模數轉換器的輸出端連接,所述第一寄存器的控制端與控制器連接,所述第一寄存器用于存儲所述第一參考值; 第二寄存器,所述第二寄存器的輸入端與所述模數轉換器的輸出端連接,所述第二寄存器的控制端與所述控制器連接,所述第二寄存器用于存儲所述第二參考值; 邏輯運算單元,所述邏輯運算單元的第一輸入端與所述第一寄存器的輸出端連接,所述邏輯運算單元的第二輸入端與所述第二寄存器的輸出端連接,所述邏輯運算單元的第三輸入端與所述模數轉換器的輸出端連接,所述邏輯運算單元用于根據所述第一參考值和所述第二參考值對所述待校準值進行邏輯運算,輸出相應的數字校準值; 所述邏輯運算單元,具體用于:根據所述第一參考值和所述第二參考值對所述待校準值進行增益校準和失調校準; 所述邏輯運算單元用于實現下式: 其中,c"表示所述數字校準值,a表示所述第一參考值,b表示所述第二參考值,c表示所述待校準值,n表示所述模數轉換器的轉換精度,表示校準增益,表示校準失調。
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