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龍圖騰網(wǎng)獲悉歌爾光學科技有限公司申請的專利光學元件表面缺陷的檢測方法、裝置及電子設備獲國家發(fā)明授權專利權，本發(fā)明授權專利權由國家知識產(chǎn)權局授予，授權公告號為：CN114565552B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權局官網(wǎng)在2025-09-09發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉：該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為：202111615387.8，技術領域涉及：G06T7/00；該發(fā)明授權光學元件表面缺陷的檢測方法、裝置及電子設備是由崔世君;王建成;胥潔浩;金玲;趙俊瑞;韓雪設計研發(fā)完成，并于2021-12-27向國家知識產(chǎn)權局提交的專利申請。

本光學元件表面缺陷的檢測方法、裝置及電子設備在說明書摘要公布了：本申請涉及一種光學元件表面缺陷的檢測方法、裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質(zhì)，涉及光學檢測技術領域。光學元件的待檢測表面刻蝕有菲涅爾紋，該方法包括：獲取待檢測表面的灰度圖像；獲取灰度圖像中分布菲涅爾紋的目標區(qū)域的極坐標圖像；去除極坐標圖像中與菲涅爾紋對應的菲涅爾紋圖案；根據(jù)極坐標圖像中剩余各圖案的圖案區(qū)域確定極坐標缺陷區(qū)域；在灰度圖像中標注與極坐標缺陷區(qū)域?qū)娜毕輩^(qū)域。

本發(fā)明授權光學元件表面缺陷的檢測方法、裝置及電子設備在權利要求書中公布了：1.一種光學元件表面缺陷的檢測方法，其特征在于，所述光學元件的待檢測表面刻蝕有用于實現(xiàn)光學功能的圖紋，所述圖紋為菲涅爾紋，所述方法包括： 獲取所述待檢測表面的灰度圖像； 獲取所述灰度圖像中分布所述圖紋的圖紋區(qū)域的極坐標圖像； 去除所述極坐標圖像中與所述圖紋對應的圖紋圖案； 根據(jù)所述極坐標圖像中剩余各圖案的圖案區(qū)域確定極坐標缺陷區(qū)域； 在所述灰度圖像中標注與所述極坐標缺陷區(qū)域?qū)娜毕輩^(qū)域； 所述獲取灰度圖像中分布圖紋的圖紋區(qū)域的極坐標圖像，包括：通過預設算法確定所述灰度圖像中的至少一個連通區(qū)域，根據(jù)所述至少一個連通區(qū)域中每個連通區(qū)域的位置、形狀參數(shù)獲取所述灰度圖像中分布所述圖紋的圖紋區(qū)域，對所述圖紋區(qū)域內(nèi)的圖像進行極坐標變換，得到所述圖紋區(qū)域的極坐標圖像； 所述去除所述極坐標圖像中與所述圖紋對應的圖紋圖案，包括：采用預先設置的n*n的掩膜遍歷極坐標圖像，提取多個目標像素點，其中，所述多個目標像素點的灰度值大于或等于所述掩膜掩蓋第一像素點時所述掩膜所掩蓋的所有像素點的灰度值均值； 確定出所述極坐標圖像中與所述圖紋對應的圖紋圖案，對所述圖紋圖案進行膨脹處理后，將所述極坐標圖像中像素點和提取出所述圖紋圖案膨脹處理后圖像中的像素點做差，得到去除所述極坐標圖像中與所述圖紋對應的所述圖紋圖案的圖像。

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