華邦電子股份有限公司金子二四三獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉華邦電子股份有限公司申請的專利半導體存儲裝置及讀出方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115732015B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210914989.1，技術領域涉及：G11C29/42；該發明授權半導體存儲裝置及讀出方法是由金子二四三;妹尾真言;葛西央倫設計研發完成，并于2022-08-01向國家知識產權局提交的專利申請。
本半導體存儲裝置及讀出方法在說明書摘要公布了：本發明提供一種半導體存儲裝置及讀出方法，可實現錯誤檢測及糾正的處理的高速化且達成小型化。本發明的閃存100具有NAND芯片200及ECC芯片300。NAND芯片200包括存儲器陣列、以及包含鎖存器L1及鎖存器L2的頁緩沖感測電路。ECC芯片300包含RAM_E、RAM_O，此RAM_E、RAM_O保持從NAND芯片200的鎖存器L1、L2輸出的讀出數據，RAM_E保持第偶數個扇區的數據，RAM_O保持第奇數個扇區的數據，可通過使RAM_E或RAM_O交替保持扇區的數據從而削減RAM_E、RAM_O的數據尺寸。
本發明授權半導體存儲裝置及讀出方法在權利要求書中公布了：1.一種半導體存儲裝置，包括： 與非芯片，包括與非型的存儲器陣列、控制部件及輸出部件，所述控制部件控制存儲器陣列的讀出動作，所述輸出部件將從所述存儲器陣列讀出的數據輸出至錯誤檢測糾正芯片； 錯誤檢測糾正芯片，包括第一保持部及第二保持部、以及錯誤檢測糾正部件，所述錯誤檢測糾正部件進行保持于所述第一保持部及第二保持部的數據的錯誤檢測及糾正，且 當一頁包含n個扇區時，所述輸出部件以扇區為單位將數據輸出至所述錯誤檢測糾正芯片，所述第一保持部保持第偶數個扇區的數據，所述第二保持部保持第奇數個扇區的數據，所述錯誤檢測糾正部件進行從第一保持部或第二保持部讀出的數據的錯誤檢測及糾正。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人華邦電子股份有限公司，其通訊地址為：中國臺灣臺中市大雅區科雅一路8號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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