買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監(jiān)控用IP管家,真方便！

龍圖騰網(wǎng)獲悉杭州電子科技大學;杭州電子科技大學舟山同博海洋電子信息研究院有限公司申請的專利一種基于重參數(shù)化卷積的目標檢測位置編碼方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN118521862B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-09發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202410745161.7，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06V10/80；該發(fā)明授權(quán)一種基于重參數(shù)化卷積的目標檢測位置編碼方法是由周麗;李涵;殷昱煜;吳寶福;張新;梁婷婷;王洪波設(shè)計研發(fā)完成，并于2024-06-11向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種基于重參數(shù)化卷積的目標檢測位置編碼方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種基于重參數(shù)化卷積的目標檢測位置編碼方法，該方法首先將圖像向量進行滑動窗口上采樣處理，獲得擴充后的圖像向量Wout。其次提取滑動窗口上采樣后的Wout的卷積位置編碼信息，以及提取圖像掩碼的絕對位置信息。最后將卷積位置編碼信息和絕對位置信息，通過融合位置編碼再提取模塊，獲得融合后的圖像位置編碼特征，完成目標檢測位置編碼。本發(fā)明充分利用圖像特征信息和掩碼，更好的利用圖像原本的特征，從而提高整個模型的檢測能力。

本發(fā)明授權(quán)一種基于重參數(shù)化卷積的目標檢測位置編碼方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種基于重參數(shù)化卷積的目標檢測位置編碼方法，其特征在于，包括如下步驟： 步驟1.將圖像向量進行滑動窗口上采樣處理，獲得擴充后的圖像向量Wout，具體過程為：圖像向量Win，大小為B,C,H,W，其中B代表每個批次圖像的數(shù)量，C代表圖像特征的通道數(shù)，H和W分別表示圖像的寬高，進行滑動窗口上采樣處理； 所述上采樣過程為：首先檢測圖像特征Win第二維度大小，即通道數(shù)C的大小，其次統(tǒng)一在該圖像向量的第二維度上使用滑動窗口上采樣模塊擴充到大小M，獲得擴充后的圖像向量Wout，其大小為B,M,H,W； 步驟2.提取滑動窗口上采樣后的Wout的卷積位置編碼信息WConv，以及提取圖像掩碼Mask的絕對位置信息WAPE； 所述提取Wout的卷積位置編碼信息WConv具體如下： 對于Wout使用重參數(shù)化卷積操作，通過提取訓(xùn)練后的卷積核參數(shù)Wb進行參數(shù)變化后獲得卷積核參數(shù)Wt，并使用Wt作為最終的卷積核進行卷積操作；同時獲得第一次提取后的位置編碼信息WConv，其大小為B,N,H,W； 所述提取圖像掩碼Mask的絕對位置信息WAPE具體如下： 對Mask進行絕對位置編碼操作，首先按照Mask的大小B,H,W計算累積和矩陣M，其大小為B,H,W，對累計和矩陣進行數(shù)值正則化處理，其次使用temperature超參數(shù)模塊平滑矩陣M的數(shù)值分布；然后進行大小映射使其變?yōu)锽,1,H,W的向量，最后復(fù)制擴充第二維度到N個，并對數(shù)組中的每個元素，計算其值與數(shù)組的索引之間的比例，獲得絕對位置編碼WAPE，其大小為B,N,H,W； 步驟3.將卷積位置編碼信息WConv和絕對位置信息WAPE，通過融合位置編碼再提取模塊，獲得融合后的圖像位置編碼特征Wcpe，完成目標檢測位置編碼。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人杭州電子科技大學;杭州電子科技大學舟山同博海洋電子信息研究院有限公司，其通訊地址為：310018 浙江省杭州市錢塘區(qū)白楊街道2號大街1158號；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。