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龍圖騰網(wǎng)獲悉北京航空航天大學(xué)申請的專利檢測光加壓電反射鏡與位置探測器模塊實(shí)現(xiàn)光路指向閉環(huán)方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN119044844B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-09發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202411061058.7，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R33/032；該發(fā)明授權(quán)檢測光加壓電反射鏡與位置探測器模塊實(shí)現(xiàn)光路指向閉環(huán)方法是由全偉;秦博東;夏浩;范文峰設(shè)計研發(fā)完成，并于2024-08-02向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本檢測光加壓電反射鏡與位置探測器模塊實(shí)現(xiàn)光路指向閉環(huán)方法在說明書摘要公布了：一種檢測光加壓電反射鏡與位置探測器模塊實(shí)現(xiàn)光路指向閉環(huán)方法。這種方法通過加壓電反射鏡用于調(diào)整光束的角度，并通過位置探測檢測光束的位置來驗(yàn)證角度調(diào)整的正確性，能夠改變光束擊中位置探測器所處的三維坐標(biāo)位置，最終達(dá)到檢測光路與抽運(yùn)光路正交，也就是抽運(yùn)光路與檢測光路垂直。通過這種方法不僅可以將檢測光打到氣室的正中心，并且氣室的正中心是最佳點(diǎn)，而且可以在抽運(yùn)光束已經(jīng)打到氣室最佳點(diǎn)的情況下，通過調(diào)整檢測光路的加壓電反射鏡可以實(shí)現(xiàn)抽運(yùn)光路與檢測光路正交。

本發(fā)明授權(quán)檢測光加壓電反射鏡與位置探測器模塊實(shí)現(xiàn)光路指向閉環(huán)方法在權(quán)利要求書中公布了：1.檢測光加壓電反射鏡與位置探測器模塊實(shí)現(xiàn)光路指向閉環(huán)方法，其特征在于，包括以下步驟： 步驟1，在SERF耦合磁強(qiáng)計系統(tǒng)中氣室的檢測光入射側(cè)設(shè)置加壓電反射鏡，在氣室的檢測光出射側(cè)設(shè)置分光棱鏡，所述分光棱鏡的反射側(cè)連接位置探測器，所述位置探測器通過第一電控連接所述加壓電反射鏡的光路指向調(diào)控端，所述加壓電反射鏡將反射檢測光依次通過透鏡、準(zhǔn)直透鏡和氣室后進(jìn)入所述分光棱鏡，所述分光棱鏡的透射側(cè)通過第三λ2片連接第二偏振分光棱鏡，所述第二偏振分光棱鏡的反射側(cè)通過第二光電探測器連接差分電路的第一輸入端，所述第二偏振分光棱鏡的透射側(cè)通過第三光電探測器連接差分電路的第二輸入端，差分電路的輸出端用于SERF耦合磁強(qiáng)計信號輸出； 步驟2，打開SERF耦合磁強(qiáng)計系統(tǒng)中的抽運(yùn)激光器和檢測激光器，調(diào)節(jié)SERF耦合磁強(qiáng)計系統(tǒng)進(jìn)入正常工作狀態(tài)； 步驟3，通過所述位置探測器得到檢測光所在的位置，所述第一電控根據(jù)檢測光的光束位置調(diào)節(jié)所述加壓電反射鏡的角度，使檢測光打到氣室正中心，并使檢測光與抽運(yùn)光在氣室正中心正交。

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