中科芯磁科技(珠海)有限責(zé)任公司韓小煒獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉中科芯磁科技(珠海)有限責(zé)任公司申請的專利多路1T1R電阻網(wǎng)絡(luò)的阻抗校準(zhǔn)電路及其阻抗校準(zhǔn)方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN119652283B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-09發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202510173789.9,技術(shù)領(lǐng)域涉及:H03H17/00;該發(fā)明授權(quán)多路1T1R電阻網(wǎng)絡(luò)的阻抗校準(zhǔn)電路及其阻抗校準(zhǔn)方法是由韓小煒;吳利華;趙凱;崔冰設(shè)計研發(fā)完成,并于2025-02-18向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本多路1T1R電阻網(wǎng)絡(luò)的阻抗校準(zhǔn)電路及其阻抗校準(zhǔn)方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明涉及集成電路技術(shù)領(lǐng)域,提供一種多路1T1R電阻網(wǎng)絡(luò)的阻抗校準(zhǔn)電路及其阻抗校準(zhǔn)方法,其中,一種多路1T1R電阻網(wǎng)絡(luò)的阻抗校準(zhǔn)電路,包括正極阻抗校準(zhǔn)模塊、負(fù)極阻抗校準(zhǔn)模塊、用戶阻抗校準(zhǔn)模塊及DCI調(diào)節(jié)模塊,其特征在于,所述正極阻抗校準(zhǔn)模塊、負(fù)極阻抗校準(zhǔn)模塊及用戶阻抗校準(zhǔn)模塊中均包含多路的RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu);所述RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)中具有多個支路RRAM結(jié)構(gòu)組成;所述支路RRAM結(jié)構(gòu)由多個改進(jìn)RRAM單元組成,其中,所述改進(jìn)RRAM單元由一個晶體管與一個RRAM單元串聯(lián)組成。本發(fā)明可以在阻抗校準(zhǔn)電路中,降低電阻分布的復(fù)雜性,且提高電路對于各種阻抗校準(zhǔn)算法的適應(yīng)性。
本發(fā)明授權(quán)多路1T1R電阻網(wǎng)絡(luò)的阻抗校準(zhǔn)電路及其阻抗校準(zhǔn)方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種多路1T1R電阻網(wǎng)絡(luò)的阻抗校準(zhǔn)電路,包括正極阻抗校準(zhǔn)模塊、負(fù)極阻抗校準(zhǔn)模塊、用戶阻抗校準(zhǔn)模塊及DCI調(diào)節(jié)模塊,其中,所述1T1R是指1個晶體管和1個RRAM單元的串聯(lián)結(jié)構(gòu),所述晶體管用于控制電流通斷,所述正極阻抗校準(zhǔn)模塊及負(fù)極阻抗校準(zhǔn)模塊分別連接到所述DCI調(diào)節(jié)模塊中的PAD上,其中,所述DCI調(diào)節(jié)模塊包含一個PAD,所述用戶阻抗校準(zhǔn)模塊分別連接DCI調(diào)節(jié)模塊、正極阻抗校準(zhǔn)模塊及負(fù)極阻抗校準(zhǔn)模塊,所述用戶阻抗校準(zhǔn)模塊用于當(dāng)所述DCI調(diào)節(jié)模塊判定所述正極阻抗校準(zhǔn)模塊及負(fù)極阻抗校準(zhǔn)模塊均不需要進(jìn)行電阻連接狀態(tài)的調(diào)節(jié)操作時,獲取所述正極阻抗校準(zhǔn)模塊的正極阻抗調(diào)節(jié)信號,及獲取負(fù)極阻抗校準(zhǔn)模塊的負(fù)極阻抗調(diào)節(jié)信號,其特征在于,所述正極阻抗校準(zhǔn)模塊及負(fù)極阻抗校準(zhǔn)模塊中均包含多路的RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu),其中,所述RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)用于作為一種可動態(tài)調(diào)節(jié)的電阻; 所述RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)中具有多個支路RRAM結(jié)構(gòu)組成,各個支路RRAM結(jié)構(gòu)之間呈矩陣式分布關(guān)系,其中,所述呈矩陣式分布關(guān)系是指所述RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)中包括多條平行的字線WL及多條垂直于字線WL的BL位線組,其中,所述BL位線組由平行的BL位線及BLN位線組成,每條BL位線組與每條的字線WL之間形成線段,每個所述線段上均連接一個改進(jìn)RRAM單元,其中,所述改進(jìn)RRAM單元的兩端分別連接BL位線及BLN位線上與所述線段形成并聯(lián),所述改進(jìn)RRAM單元中晶體管的柵極連接至所述線段; 所述支路RRAM結(jié)構(gòu)由多個改進(jìn)RRAM單元組成,其中,所述改進(jìn)RRAM單元由一個晶體管與一個RRAM單元串聯(lián)組成; 其中,所述正極阻抗校準(zhǔn)模塊中每一路的RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu),包括兩個PMOS,一個所述RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu),組成PMOS-RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)-PMOS的串聯(lián)結(jié)構(gòu),電流方向依次是VCCO、PMOS、RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)、PMOS及所述DCI調(diào)節(jié)模塊中的PAD,其中,VCCO在所述正極阻抗校準(zhǔn)模塊中的RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)的外部,所述正極阻抗校準(zhǔn)模塊用于對所述RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)中的電阻連接狀態(tài)進(jìn)行調(diào)節(jié),得到正極阻抗調(diào)節(jié)信號; 其中,所述負(fù)極阻抗校準(zhǔn)模塊中每一路的RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu),包括兩個NMOS,一個所述RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu),組成NMOS-RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)-NMOS的串聯(lián)結(jié)構(gòu),電流方向依次是PAD、NMOS、RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)、NMOS及接地,其中,接地在所述負(fù)極阻抗校準(zhǔn)模塊中的RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)的外部,所述負(fù)極阻抗校準(zhǔn)模塊用于對所述RRAM網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)中的電阻連接狀態(tài)進(jìn)行調(diào)節(jié),得到負(fù)極阻抗調(diào)節(jié)信號; 其中,所述DCI調(diào)節(jié)模塊,用于判定所述正極阻抗校準(zhǔn)模塊及負(fù)極阻抗校準(zhǔn)模塊是否需要進(jìn)行電阻連接狀態(tài)的調(diào)節(jié)操作。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人中科芯磁科技(珠海)有限責(zé)任公司,其通訊地址為:519070 廣東省珠海市香洲區(qū)前河北路68號之環(huán)宇城寫字樓7層08單元;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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