之江實驗室胡勇獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉之江實驗室申請的專利一種硅光鏈路的后制造校準與波長動態鎖定裝置和方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120315199B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510797204.0，技術領域涉及：G02F1/01；該發明授權一種硅光鏈路的后制造校準與波長動態鎖定裝置和方法是由胡勇;杜清揚;張燕;虞紹良設計研發完成，并于2025-06-16向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種硅光鏈路的后制造校準與波長動態鎖定裝置和方法在說明書摘要公布了：本申請涉及一種硅光鏈路的后制造校準與波長動態鎖定裝置和方法，其中，硅光鏈路的后制造校準與波長動態鎖定裝置包括：檢測模塊、溫控模塊以及與所述溫控模塊關聯的光學相變模塊，所述檢測模塊用于檢測第一波長參數；所述溫控模塊，用于基于第一波長參數與設計波長參數的第一差異信號施加脈沖電壓信號，以使所述光學相變模塊發生光學相變，實現硅光鏈路的后制造校準補償；所述檢測模塊還用于檢測第二波長參數；所述溫控模塊還用于基于第二波長參數與設計波長參數的第二差異信號施加連續電壓信號，以通過熱光效應實現對所述硅光鏈路的波長動態鎖定，同時實現了制造后的校準補償與實際工作中的動態波長調控。
本發明授權一種硅光鏈路的后制造校準與波長動態鎖定裝置和方法在權利要求書中公布了：1.一種硅光鏈路的后制造校準與波長動態鎖定裝置，其特征在于，所述裝置包括：與所述硅光鏈路中光學器件連接的檢測模塊，與所述檢測模塊連接的溫控模塊以及與所述溫控模塊關聯的光學相變模塊， 所述檢測模塊，用于在后制造校準中檢測所述光學器件的第一波長參數，并基于所述第一波長參數與設計波長參數的差異，得到第一差異信號； 所述溫控模塊，用于接收所述第一差異信號，基于所述第一差異信號施加脈沖電壓信號，以使所述光學相變模塊發生光學相變，實現硅光鏈路的后制造校準補償； 所述檢測模塊，還用于在工作狀態下實時檢測所述光學器件的第二波長參數，并基于所述第二波長參數與所述設計波長參數的差異，得到第二差異信號； 所述溫控模塊，還用于接收所述第二差異信號，并基于所述第二差異信號施加連續電壓信號，以通過熱光效應實現對所述硅光鏈路的波長動態鎖定。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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