西安智多晶微電子有限公司彭利澤獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉西安智多晶微電子有限公司申請的專利軟錯誤注入方法及FPGA芯片獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120371622B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510864367.6,技術領域涉及:G06F11/22;該發明授權軟錯誤注入方法及FPGA芯片是由彭利澤;吳林鑫;賈弘翊;韋嶔設計研發完成,并于2025-06-26向國家知識產權局提交的專利申請。
本軟錯誤注入方法及FPGA芯片在說明書摘要公布了:本發明公開了一種軟錯誤注入方法及FPGA芯片,該方法應用于FPGA芯片的軟核IP上,所述FPGA芯片中軟錯誤糾正SEC硬核的注入接口被封裝在所述軟核IP中,所述方法包括:接收來自用戶的設置信號,得到設置信息;根據設置信息生成軟錯誤注入信息;通過注入接口向SEC硬核發送軟錯誤注入信息,以令SEC硬核根據軟錯誤注入信息注入軟錯誤。本發明在進行軟錯誤注入時不依賴JTAG接口,占用的FPGA資源較小,注入效率較高。
本發明授權軟錯誤注入方法及FPGA芯片在權利要求書中公布了:1.一種軟錯誤注入方法,其特征在于,所述方法應用于FPGA芯片的軟核IP上,所述FPGA芯片中軟錯誤糾正SEC硬核的注入接口被封裝在所述軟核IP中,所述方法包括: 接收來自用戶的設置信號,得到設置信息,其中,所述用戶通過點擊生成界面中的相應區域,向所述軟核IP發送所述設置信號; 根據所述設置信息生成軟錯誤注入信息; 通過所述注入接口向所述SEC硬核發送所述軟錯誤注入信息,以令所述SEC硬核根據所述軟錯誤注入信息注入軟錯誤; 其中,所述軟錯誤注入信息包括至少一個軟錯誤注入地址及軟錯誤注入邏輯控制文件,其中,所述軟錯誤注入邏輯控制文件用于控制所述SEC硬核在所述軟錯誤注入地址處進行軟錯誤注入; 所述設置信息包括:校驗模式、軟錯誤注入數量、指定地址或軟錯誤注入地址生成算法; 所述軟錯誤注入地址為所述指定地址,或者是根據所述軟錯誤注入地址生成算法生成的; 所述軟錯誤注入地址生成算法包括高斯分布、指數分布、Beta分布和三角分布隨機算法; 所述軟錯誤注入地址不包括FPGA芯片的無功能區域; 所述注入接口為使能信號接口,用于接收使能信號,并在檢測到所述使能信號的上升沿時指示所述SEC硬核注入軟錯誤。
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