深圳市海譜納米光學科技有限公司黃創文獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉深圳市海譜納米光學科技有限公司申請的專利一種用于待測元器件的測試治具獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN113655254B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202111151946.4，技術領域涉及：G01R1/073；該發明授權一種用于待測元器件的測試治具是由黃創文;林琳設計研發完成，并于2021-09-29向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種用于待測元器件的測試治具在說明書摘要公布了：本申請公開了一種用于待測元器件的測試治具，包括上蓋和下蓋，所述上蓋和下蓋之間設有中間可容納待測元器件的凹槽，所述上蓋上對應于所述待測元器件的位置設有彈片結構，所述彈片結構是導電材質，所述彈片結構從所述上蓋的外圍朝向所述上蓋的中心延伸，以使得當所述上蓋和下蓋蓋合時所述彈片結構能夠與所述凹槽中的待測器件相接觸。通過采用上述結構，待測元器件進行測試時，除彈片結構與待測元器件接觸的部位外，其余部位不承受壓力，彈片結構降低了施加在待測元器件上的扭力，同時又實現了電氣連接，使該治具成為一種無損的測試治具，極大降低了待測元器件測試時產生的破損率。
本發明授權一種用于待測元器件的測試治具在權利要求書中公布了：1.一種用于待測元器件的測試治具，其特征在于，包括上蓋和下蓋，所述上蓋和下蓋之間設有中間可容納待測元器件的凹槽，所述上蓋上對應于所述待測元器件的位置設有彈片結構，所述彈片結構是導電材質，所述彈片結構從所述上蓋的外圍朝向所述上蓋的中心延伸，以使得當所述上蓋和下蓋蓋合時所述彈片結構能夠與所述凹槽中的待測元器件相接觸；所述彈片結構包括彈片和墊片，所述彈片的端點與所述墊片所在平面有高度差，所述彈片的端部與所述待測元器件接觸。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人深圳市海譜納米光學科技有限公司，其通訊地址為：518000 廣東省深圳市寶安區新安街道興東社區69區中糧創芯研發中心1棟1903，1904；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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