中國科學院深圳先進技術研究院楊天宇獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國科學院深圳先進技術研究院申請的專利一種溫度和流速測量系統及方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN116263359B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202111525677.3,技術領域涉及:G01K11/3206;該發明授權一種溫度和流速測量系統及方法是由楊天宇;董玉明;石云杰設計研發完成,并于2021-12-14向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種溫度和流速測量系統及方法在說明書摘要公布了:本申請涉及一種溫度和流速測量系統及方法,溫度和流速測量系統包括:探測光源;加熱光源;探頭,其包括探測光纖、連接于探測光纖端面的直接帶隙型熱光材料部件以及連接于直接帶隙型熱光材料部件的終端面的反射層;處理模塊,其與探頭連接,并接收探測光經反射層形成的反射光;光學器件,加熱光源和探測光源和探測光纖均與光學器件連接,處理模塊與光學器件連接;啟閉模塊,其通過切換加熱光源的啟閉狀態,以進行流速和溫度測量的切換。本申請通過溫度與直接帶隙型熱光材料部件的透射譜數據的關系,以方便根據直接帶隙型熱光材料部件的透射譜數據得知待測環境內的流速數據和溫度數據。
本發明授權一種溫度和流速測量系統及方法在權利要求書中公布了:1.一種溫度和流速測量系統,其特征在于,其包括: 探測光源,其發射探測光; 加熱光源,其發射加熱光; 探頭,其包括探測光纖、連接于所述探測光纖端面的直接帶隙型熱光材料部件以及連接于所述直接帶隙型熱光材料部件的終端面的反射層; 處理模塊,其與所述探頭連接,并接收所述探測光經所述反射層形成的反射光; 光學器件,所述加熱光源和所述探測光源和所述探測光纖均與所述光學器件連接,以通過所述光學器件將所述探測光和所述加熱光傳輸至所述探測光纖,所述處理模塊與所述光學器件連接,所述反射光通過所述光學器件傳輸至所述處理模塊; 啟閉模塊,其通過切換所述加熱光源的啟閉狀態,以進行流速和溫度測量的切換。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院深圳先進技術研究院,其通訊地址為:518000 廣東省深圳市南山區西麗深圳大學城學苑大道1068號;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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