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龍圖騰網獲悉中國科學院電工研究所申請的專利一種鐵片勻場方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114636958B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210228506.2，技術領域涉及：G01R33/3873；該發明授權一種鐵片勻場方法是由王耀輝;王秋良設計研發完成，并于2022-03-08向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種鐵片勻場方法在說明書摘要公布了：本發明提供一種鐵片勻場方法，以磁場均勻度偏差一范數與鐵片厚度加權為目標函數。通過引入額外變量，實現磁場均勻度偏差一范數的去絕對值轉換，使得目標函數轉換為線性形式，再在原有鐵片厚度約束中加入新引入變量的非負性約束以及磁場偏差一范數去絕對值后的等式約束，如此構成新的線性優化體系。進一步引入最小鐵片厚度，對原有鐵片厚度變量進行數值變換，然后形成新的待求解變量。通過整數優化算法對新的線性優化體系進行求解，得到鐵片分布的整數解。本發明采用一臺9.4T人體磁共振成像超導磁體初始磁場數據，使得上述高性能鐵片勻場方法的勻場效果得到驗證。

本發明授權一種鐵片勻場方法在權利要求書中公布了：1.一種鐵片勻場方法，基于整數優化的鐵片勻場磁場均勻度偏差一范數最小化運算方法，其特征在于，包括如下步驟：建立基于整數優化的鐵片勻場磁場均勻度偏差一范數最小化運算方法的目標函數為： （1） 約束條件為： （2） 其中，X為待求解的勻場槽內的鐵片厚度變量，A為鐵片厚度到鐵片磁化場空間分布的傳遞矩陣，b為磁體基礎磁場，tmax為最大允許鐵片厚度，w為加權系數，mean（Ax+b）為平均計算； 將帶有磁場均勻度偏差一范數的目標函數轉換為線性目標函數包括： 經過矩陣合并，目標函數轉化為： （4） 然后通過去絕對值進行線性轉換，即引入變量U和V，使得|A'X+b'|=U+V，A'X+b'=U-V，且U≥0，V≥0；將鐵片厚度轉換為鐵片片數與最小鐵片厚度的乘積，即X=tminX'； 目標函數進一步轉化為： （5） 約束條件： （6） 其中，A'為系數合并后的傳遞矩陣，b'為轉換后的磁場，tmin為最小鐵片厚度，X'為鐵片片數變量，鐵片片數變量X'和新引入變量U、V組成了新的待求解變量體系[X';U;V]。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院電工研究所，其通訊地址為：100190 北京市海淀區中關村北二條6號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。