武漢華工正源光子技術(shù)有限公司聞小波獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉武漢華工正源光子技術(shù)有限公司申請的專利光路整形過程中光功率控制方法及系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN116594123B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-05發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202310556979.X,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G02B6/42;該發(fā)明授權(quán)光路整形過程中光功率控制方法及系統(tǒng)是由聞小波;胡長飛;王一鳴;譚芮設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2023-05-17向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本光路整形過程中光功率控制方法及系統(tǒng)在說明書摘要公布了:本發(fā)明涉及光通信技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種光路整形過程中光功率控制方法及系統(tǒng)。該方法包括獲取光照燈管距離待固化透鏡的膠體的距離和照射角度;根據(jù)光照燈管的距離和照射角度設(shè)置若干梯度照射試驗(yàn)方案;根據(jù)梯度照射試驗(yàn)方案對待固化透鏡進(jìn)行固化試驗(yàn),以獲得各梯度照射試驗(yàn)方案的光變量;基于光變量確定目標(biāo)梯度照射試驗(yàn)方案;基于預(yù)設(shè)步進(jìn)距離對待固化透鏡進(jìn)行位移試驗(yàn),以獲得目標(biāo)位移量,并將目標(biāo)位移量作為預(yù)提量;根據(jù)目標(biāo)梯度照射試驗(yàn)方案和預(yù)提量進(jìn)行光路整形。本發(fā)明中通過梯度設(shè)置光照強(qiáng)度和時間以及在耦合前設(shè)置預(yù)提量,保證固化效果的同時降低膠水固化過程中產(chǎn)生的應(yīng)力,提高光器件生產(chǎn)工藝的耦合精度。
本發(fā)明授權(quán)光路整形過程中光功率控制方法及系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了:1.一種光路整形過程中光功率控制方法,其特征在于,所述光路整形過程中光功率控制方法,包括: 獲取光照燈管距離待固化透鏡的膠體的距離和照射角度; 根據(jù)所述光照燈管的距離和照射角度設(shè)置若干梯度照射試驗(yàn)方案; 根據(jù)所述梯度照射試驗(yàn)方案對所述待固化透鏡進(jìn)行固化試驗(yàn),以獲得各所述梯度照射試驗(yàn)方案的光變量; 基于所述光變量確定目標(biāo)梯度照射試驗(yàn)方案; 基于預(yù)設(shè)步進(jìn)距離對所述待固化透鏡進(jìn)行位移試驗(yàn),以獲得目標(biāo)位移量,并將所述目標(biāo)位移量作為預(yù)提量; 根據(jù)所述目標(biāo)梯度照射試驗(yàn)方案和所述預(yù)提量進(jìn)行光路整形; 其中,根據(jù)所述目標(biāo)梯度照射試驗(yàn)方案和所述預(yù)提量進(jìn)行光路整形之前,還包括:在所述目標(biāo)梯度照射試驗(yàn)方案的條件下對所述預(yù)提量進(jìn)行驗(yàn)證優(yōu)化;根據(jù)驗(yàn)證優(yōu)化結(jié)果確定所述預(yù)提量是否為最優(yōu)位移量;在所述預(yù)提量為所述最優(yōu)位移量時,執(zhí)行根據(jù)所述目標(biāo)梯度照射試驗(yàn)方案和所述預(yù)提量進(jìn)行光路整形的步驟; 在所述目標(biāo)梯度照射試驗(yàn)方案的條件下對所述預(yù)提量進(jìn)行驗(yàn)證優(yōu)化,包括:根據(jù)所述預(yù)提量設(shè)置若干對照位移量;在通過所述光照燈管對膠體進(jìn)行固化前,根據(jù)所述預(yù)提量和所述對照位移量將預(yù)設(shè)坐標(biāo)軸上抬;將所述待固化透鏡耦合至固化位置后進(jìn)行點(diǎn)膠,以獲得固化前光功率;在所述目標(biāo)梯度照射試驗(yàn)方案的條件下進(jìn)行固化,以獲得固化后光功率;根據(jù)所述固化前光功率和所述固化后光功率得到驗(yàn)證光功率變化量; 根據(jù)驗(yàn)證優(yōu)化結(jié)果確定所述預(yù)提量是否為最優(yōu)位移量,包括:比較所述預(yù)提量和所述對照位移量的所述驗(yàn)證光功率變化量;在所述預(yù)提量的所述驗(yàn)證光功率變化量小于所述對照位移量的所述驗(yàn)證光功率變化量時,確定所述預(yù)提量為最優(yōu)位移量。
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