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龍圖騰網獲悉華中科技大學申請的專利一種基于反射極化度的復介電常數測量方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119044613B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411048390.X，技術領域涉及：G01R27/26；該發明授權一種基于反射極化度的復介電常數測量方法及系統是由蘇金龍;李紅娟;胡飛;朱冬設計研發完成，并于2024-08-01向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于反射極化度的復介電常數測量方法及系統在說明書摘要公布了：本發明屬于毫米波輻射探測技術領域，公開了一種基于反射極化度的復介電常數測量方法及系統，包括：在測試時間[0,t]內，保持待測材料的物理溫度不變，使以當前入射角θi入射到待測材料表面的環境輻射處于變化狀態，測量當前入射角θi下待測材料的水平極化輸出和垂直極化輸出；基于所述水平極化輸出和垂直極化輸出，計算待測材料發射電壓的估計值，以估計當前入射角θi下的反射極化度RDoP：改變當前入射角θi，并重復上述步驟，得到各入射角θ1，θ2，…，θM下的反射極化度RDoP；基于各入射角θ1，θ2，…，θM下的反射極化度RDoP估計待測材料在當前物理溫度下的復介電常數。本發明能夠降低復介電常數測量的誤差及復雜度。

本發明授權一種基于反射極化度的復介電常數測量方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種基于反射極化度的復介電常數測量方法，其特征在于，包括： S1、在測試時間[0,t]內，保持待測材料的物理溫度Tobj不變，使以當前入射角θi入射到待測材料表面的環境輻射處于變化狀態，測量當前入射角θi下待測材料的水平極化輸出Vh和垂直極化輸出Vv；其中，i取1，2，…，或M，M表示測量的入射角總數； S2、計算待測材料發射電壓VE的估計值，并以使得所述估計值自相關度的絕對值最小為估計目標，估計當前入射角θi下的反射極化度RDoP；其中，，pe表示發射極化度； S3、改變當前入射角θi，并重復S1-S2，得到各入射角θ1，θ2，…，θM下的反射極化度RDoP； S4、基于各入射角θ1，θ2，…，θM下的反射極化度RDoP估計待測材料在當前物理溫度Tobj下的復介電常數； S4中，通過下式估計待測材料在當前物理溫度Tobj下的復介電常數： 式中，為預設的估計量；表示入射角θi下的反射極化度RDoP；表示待估計參數在入射角θi下的RDoP理論值；待估計參數表示在待測材料大致的復介電常數范圍內的第j個復介電常數；其中，待測材料大致的復介電常數范圍為已知量，將所述復介電常數范圍按照預設的估計量劃分為個復介電常數，第j個復介電常數即為。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人華中科技大學，其通訊地址為：430074 湖北省武漢市洪山區珞喻路1037號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。