西安電子科技大學(xué);西安電子科技大學(xué)廣州研究院嚴(yán)粵飛獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉西安電子科技大學(xué);西安電子科技大學(xué)廣州研究院申請的專利基于區(qū)間精細(xì)的有源相控陣天線電性能幅相調(diào)整量計算方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN119312537B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-05發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202411317914.0,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G06F30/20;該發(fā)明授權(quán)基于區(qū)間精細(xì)的有源相控陣天線電性能幅相調(diào)整量計算方法是由嚴(yán)粵飛;王浩;王宗清;王龍楊;段學(xué)超;陳競覃;宋學(xué)官;王志海;翁俊;萬繼響;王從思設(shè)計研發(fā)完成,并于2024-09-20向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本基于區(qū)間精細(xì)的有源相控陣天線電性能幅相調(diào)整量計算方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明公開了一種基于區(qū)間精細(xì)的有源相控陣天線電性能幅相調(diào)整量計算方法,建立天線方向圖區(qū)間函數(shù)模型,進行陣面形貌測量;計算天線方向圖區(qū)間函數(shù),建立補償后的天線方向圖區(qū)間函數(shù);建立補償后的方向圖函數(shù)與理想方向圖函數(shù)之差表達式,離散天線觀察角度,構(gòu)建離散后的補償激勵電流矩陣和理想激勵電流矩陣;求解各陣元補償后的激勵電流幅相區(qū)間函數(shù),轉(zhuǎn)變?yōu)殛P(guān)于陣元位置的函數(shù);細(xì)分陣元位置區(qū)間向量,得到補償后的激勵電流的精細(xì)函數(shù);進而得到各陣元精細(xì)后的激勵電流幅相調(diào)整區(qū)間量。本發(fā)明算出天線的激勵電流幅度相位的調(diào)整量,基于精細(xì)使得區(qū)間放大效應(yīng)進行了改善,避免調(diào)整量存在不夠精確或不可靠的問題,保證了天線的電性能。
本發(fā)明授權(quán)基于區(qū)間精細(xì)的有源相控陣天線電性能幅相調(diào)整量計算方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種基于區(qū)間精細(xì)的有源相控陣天線電性能幅相調(diào)整量計算方法,其特征在于,包括如下步驟: 根據(jù)有源相控陣天線參數(shù)建立天線方向圖區(qū)間函數(shù)模型; 對有源相控陣天線進行陣面形貌測量,得到天線陣元位置的區(qū)間向量; 根據(jù)天線陣元位置的區(qū)間向量計算陣元位置不確定性影響下的有源相控陣天線方向圖區(qū)間函數(shù); 建立補償后的有源相控陣天線方向圖區(qū)間函數(shù); 基于最小二乘法原理建立補償后的有源相控陣天線方向圖函數(shù)與理想方向圖函數(shù)之差表達式; 將天線觀察角度離散為若干個角度,得到補償后的有源相控陣天線方向圖函數(shù)與理想方向圖函數(shù)之差的最小轉(zhuǎn)變量; 構(gòu)建離散后的補償激勵電流矩陣和理想激勵電流矩陣; 求解各陣元補償后的激勵電流幅相區(qū)間函數(shù),并轉(zhuǎn)變?yōu)殛P(guān)于陣元位置的函數(shù); 對陣元位置區(qū)間向量進行均勻細(xì)分,得到細(xì)分后的陣元位置區(qū)間向量; 根據(jù)陣元位置的函數(shù)得到補償后的激勵電流的精細(xì)函數(shù); 根據(jù)精細(xì)函數(shù)計算得到各陣元最終精細(xì)后的激勵電流幅相調(diào)整區(qū)間量。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人西安電子科技大學(xué);西安電子科技大學(xué)廣州研究院,其通訊地址為:710071 陜西省西安市雁塔區(qū)太白南路2號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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