買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標(biāo)用IPTOP,全免費！專利年費監(jiān)控用IP管家,真方便！

龍圖騰網(wǎng)獲悉衡陽寰宇科技有限公司申請的專利一種銀漿鍍膜導(dǎo)電均勻性測試系統(tǒng)及測試方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN119290974B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-02發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202411564973.8，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N27/06；該發(fā)明授權(quán)一種銀漿鍍膜導(dǎo)電均勻性測試系統(tǒng)及測試方法是由石招弟;石雪梅設(shè)計研發(fā)完成，并于2024-11-05向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種銀漿鍍膜導(dǎo)電均勻性測試系統(tǒng)及測試方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種銀漿鍍膜導(dǎo)電均勻性測試系統(tǒng)及測試方法，具體涉及銀漿鍍膜導(dǎo)電測試技術(shù)領(lǐng)域，用于解決銀漿鍍膜導(dǎo)電均勻性測試不準(zhǔn)確的問題；本發(fā)明通過高精度壓力傳感器和攝像裝置，在每個測量點實時監(jiān)測探針的接觸狀態(tài)數(shù)據(jù)，生成接觸狀態(tài)矩陣以支持接觸電阻的精確修正，采集數(shù)據(jù)經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化處理后，使用支持向量回歸模型捕捉非線性關(guān)系，通過交叉驗證和參數(shù)調(diào)優(yōu)優(yōu)化補(bǔ)償模型，設(shè)定最佳壓力范圍以穩(wěn)定接觸條件并平滑處理數(shù)據(jù)，采用多通道數(shù)據(jù)采集和分布式采樣同步算法校正時間偏差，并結(jié)合補(bǔ)償系數(shù)修正誤差，最終，通過電阻數(shù)據(jù)矩陣計算導(dǎo)電性均勻性指數(shù)，生成熱圖分類評估，修復(fù)低度均勻區(qū)域，顯著提升導(dǎo)電均勻性測試一致性和可靠性。

本發(fā)明授權(quán)一種銀漿鍍膜導(dǎo)電均勻性測試系統(tǒng)及測試方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種銀漿鍍膜導(dǎo)電均勻性測試方法，其特征在于，包括如下步驟： 在每個測量點使用壓力傳感器監(jiān)測探針的接觸壓力和面積，并通過攝像裝置獲取表面粗糙度特征，使用傅里葉變換分析頻域信息，結(jié)合壓力和電流電壓數(shù)據(jù)修正接觸電阻并整合為接觸狀態(tài)矩陣；具體過程如下： 在每個測量點上，壓力傳感器實時采集探針的接觸壓力數(shù)據(jù)，生成壓力矩陣； 根據(jù)測得的接觸壓力矩陣計算每個測量點的實際接觸面積； 使用微型攝像裝置進(jìn)行微觀掃描，生成探針接觸點的高分辨率圖像數(shù)據(jù)，通過傅里葉變換對圖像進(jìn)行頻域分析，提取表面粗糙度特征，生成粗糙度矩陣； 通過測量電流和電壓計算獲取接觸電阻值，并將接觸壓力、接觸面積和接觸電阻三者整合形成接觸狀態(tài)矩陣 對采集數(shù)據(jù)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理，根據(jù)支持向量回歸捕捉非線性關(guān)系，經(jīng)交叉驗證和參數(shù)調(diào)優(yōu)后，生成優(yōu)化的接觸電阻補(bǔ)償模型，用于實時電阻數(shù)據(jù)調(diào)整，提高導(dǎo)電性一致性，并根據(jù)補(bǔ)償模型設(shè)定最佳壓力范圍； 實時采集接觸壓力、面積、粗糙度和電阻數(shù)據(jù)，輸入補(bǔ)償模型修正電阻值，并通過加權(quán)移動平均算法平滑處理，并監(jiān)控平滑數(shù)據(jù)，若偏差超出容差范圍，則進(jìn)行接觸電阻補(bǔ)償模型自適應(yīng)調(diào)整，具體包括： 實時采集接觸壓力、接觸面積、粗糙度和接觸電阻數(shù)據(jù)，在獲取實時數(shù)據(jù)后，輸入到建立的接觸電阻補(bǔ)償模型中，計算出每個測量點的實時接觸電阻補(bǔ)償系數(shù)； 通過接觸電阻補(bǔ)償系數(shù)修正實時測得的接觸電阻值，并采用加權(quán)移動平均算法對修正后的接觸電阻值進(jìn)行平滑處理； 對平滑處理后的電阻數(shù)據(jù)設(shè)定容差范圍并進(jìn)行接觸電阻補(bǔ)償模型動態(tài)調(diào)整； 通過多通道數(shù)據(jù)采集和分布式采樣同步算法進(jìn)行測量點同步采集，校正時間偏差，并結(jié)合補(bǔ)償系數(shù)進(jìn)行誤差修正，基于最終電阻數(shù)據(jù)矩陣計算均勻性指數(shù)，生成熱圖，分類評估導(dǎo)電性，修復(fù)低度均勻區(qū)域。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人衡陽寰宇科技有限公司，其通訊地址為：421200 湖南省衡陽市衡陽縣西渡鎮(zhèn)清江北路船山時間谷A12棟第一層；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。