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龍圖騰網獲悉中國電子科技集團公司第十五研究所申請的專利一種顯卡固件安全檢測方法及裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119903513B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-02發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411969764.1，技術領域涉及：G06F21/56；該發明授權一種顯卡固件安全檢測方法及裝置是由楊天長;張先國;劉策越;賈佳;張鵬;趙杰民;李寶靜;徐明燁;唐然;尹譽衡設計研發完成，并于2024-12-30向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種顯卡固件安全檢測方法及裝置在說明書摘要公布了：本發明公開了一種顯卡固件安全檢測方法及裝置，該方法包括獲取顯卡固件所在計算機設備的屬性信息；根據屬性信息，對顯卡固件進行顯卡Flash芯片讀寫處理，得到顯卡固件物理地址信息；根據顯卡固件物理地址信息，對顯卡固件的BIOS數據結構進行分析，得到顯卡BIOS鏡像位置信息；根據顯卡BIOS鏡像位置信息，對顯卡固件進行安全檢測，得到顯卡固件性能評價指標集合，所述顯卡固件性能評價指標集合包括硬件性能評價指標和顯示性能評價指標。對顯卡固件性能評價指標集合進行處理，得到顯卡固件安全檢測結果。本發明有效實現了顯卡固件的安全檢測，確保顯卡固件在整個生命周期中都能安全有效地工作，從而保護設備和用戶數據的安全。

本發明授權一種顯卡固件安全檢測方法及裝置在權利要求書中公布了：1.一種顯卡固件安全檢測方法，其特征在于，所述方法包括： S1，對顯卡固件進行安全檢測，得到顯卡固件性能評價指標集合；所述顯卡固件性能評價指標集合包括硬件性能評價指標和顯示性能評價指標； S2，對所述顯卡固件性能評價指標集合進行處理，得到顯卡固件安全檢測結果，包括： S21，對所述硬件性能評價指標進行處理，得到硬件性能評價指標判斷矩陣A； 所述硬件性能評價指標判斷矩陣A的表達式為： 式中，aij為硬件性能評價指標中第i個元素和第j個元素之間的相關系數，i＝1,2,…,n,j＝1,2,…,n； S22，對所述顯示性能評價指標進行處理，得到顯示性能評價指標判斷矩陣B； 所述顯示性能評價指標判斷矩陣B的表達式為： 式中，bkp為顯示性能評價指標中第k個元素和第p個元素之間的相關系數，k＝1,2,…,m,p＝1,2,…,m； S23，對所述硬件性能評價指標判斷矩陣A和所述顯示性能評價指標判斷矩陣B進行處理，得到顯卡固件安全檢測結果，包括： S231，對所述硬件性能評價指標判斷矩陣A進行處理，得到硬件性能評價指標權重wa，包括： S2311，對所述硬件性能評價指標判斷矩陣A進行處理，得到矩陣A的效益矩陣A′； 所述效益矩陣A′的表達式為： 其中，faij為效益矩陣A′中的第i行第j列元素； S2312，對所述效益矩陣A′進行求解，得到特征值λ1,λ2,…,λn，并求出特征值對應的特征向量ei，i＝1,2,…,n； S2313，對所述特征向量ei進行處理，得到硬件性能評價指標權重wa； 所述硬件性能評價指標權重wa表達式為：wa＝[wa1,wa1,…,wan]； 其中wai為wa中的第i個元素，將wa′i歸一化為[0,1]之間，得到wai； S232，對所述顯示性能評價指標判斷矩陣B進行處理，得到顯示性能評價指標權重wb； S233，對所述顯卡固件性能評價指標集合進行處理，得到硬件性能評價指標隸屬度和顯示性能評價指標隸屬度； S234，對所述硬件性能評價指標權重wa和所述硬件性能評價指標隸屬度進行處理，得到硬件性能評價結果，包括： 利用硬件性能評價模型，對所述硬件性能評價指標權重wa和所述硬件性能評價指標隸屬度進行處理，得到硬件性能評價結果S1； 所述硬件性能評價模型表達式為： 其中，waq為權重向量wa＝wa1,wa2,...wan中的第q個元素，uqx為所述硬件性能評價指標隸屬度中的第q個元素； S235，對所述顯示性能評價指標權重wb和所述顯示性能評價指標隸屬度進行處理，得到顯示性能評價結果； S236，對所述硬件性能評價結果和所述顯示性能評價結果進行整合，得到顯卡固件安全檢測結果。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國電子科技集團公司第十五研究所，其通訊地址為：100083 北京市海淀區北四環中路211號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。