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龍圖騰網獲悉北京大學申請的專利一種測量(n, α)反應角度微分截面的方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120370376B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-02發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510869767.6，技術領域涉及：G01T1/185；該發明授權一種測量(n, α)反應角度微分截面的方法是由夏聰;張國輝;劉杰;鄔澤鵬;白浩帆;任文凱設計研發完成，并于2025-06-26向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種測量(n, α)反應角度微分截面的方法在說明書摘要公布了：本發明公布了一種測量n,α反應角度微分截面的方法，屬于核數據測量技術領域。本發明利用屏柵電離室和氣體樣品測量得到陽極脈沖上升時間和陽極幅度，通過陽極脈沖上升時間得到核反應事件徑跡平行于中子入射方向上的投影長度，一個投影長度對應兩個α粒子出射角度；而陽極幅度的不同則可以區分投影長度相同但α粒子出射角度不同的事件，因此根據陽極幅度?陽極脈沖上升時間二維譜，通過其上的V字形事件區劃分不同α粒子出射角度的事件來得到事件數，結合待測反應核數和所對應的中子通量就能夠得到待測反應角度微分截面。本發明可用于測量n,α反應的角度微分截面，具有待測樣品核數多，探測效率高，不受探測器擺放角度限制的特點。

本發明授權一種測量(n, α)反應角度微分截面的方法在權利要求書中公布了：1.一種測量n,α反應角度微分截面的方法，其特征在于，包括以下步驟： 1）根據待測核反應選擇包含待測核的氣體樣品，并設計包含該氣體樣品的工作氣體，要求所述工作氣體在屏柵電離室中實驗時具有PHD效應； 2）在屏柵電離室中充入所述工作氣體進行在束實驗，采集屏柵電離室的陰極信號、陽極信號和裂變信號； 3）分析采集到的陽極信號，得到每個陽極信號的脈沖上升時間和陽極幅度，并做出陽極幅度-陽極脈沖上升時間二維譜； 4）在陽極幅度-陽極脈沖上升時間二維譜上待測事件區呈現為V字形區域，α粒子的出射角度θ α 的不同導致不同的事件在V字形區域的不同位置，確定角度的分bin方式，將V字形區域劃分為多個bin，某個bin即為某個角度區間所對應的事件區； 5）利用式（2）計算每個bin的上下邊界所對應的陽極脈沖上升時間T r，從而完成分bin； （2） 其中，l e 為電子團平行于電場方向的投影長度，v g為電子穿過柵極時的電子漂移速率，t ga為電子在柵極和陽極之間的漂移時間； 6）統計每個bin中的事件數，并根據實際的實驗條件對本底和或低能中子造成的干擾進行修正，并計算α粒子的探測效率； 7）確定實驗中的中子通量和核數，并計算角度微分截面。

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