北京時代民芯科技有限公司;北京微電子技術研究所劉銀萍獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉北京時代民芯科技有限公司;北京微電子技術研究所申請的專利一種FPGA高速串行收發器單粒子效應性能評估系統及方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN114968738B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210493910.2,技術領域涉及:G06F11/34;該發明授權一種FPGA高速串行收發器單粒子效應性能評估系統及方法是由劉銀萍;陳雷;孫華波;張帆;楊銘謙;劉瑩;董亞寧;劉映光;楊安予;楊澤宇設計研發完成,并于2022-04-29向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種FPGA高速串行收發器單粒子效應性能評估系統及方法在說明書摘要公布了:一種FPGA高速串行收發器單粒子效應性能評估系統及方法,評估系統包括上位機、主控系統和待測系統。上位機負責試驗過程控制和試驗結果顯示。主控系統負責接受上位機操作指令,控制待測系統完成單粒子效應評估。待測系統中FPGA,用部分暴露在粒子束下的方式,完成高速串行收發器單粒子試驗。利用統計學方法定義單粒子翻轉、可恢復單粒子功能中斷和不可恢復單粒子功能中斷,最終完成待測FPGA高速串行收發器的單粒子效應評估。本發明是一種系統級的單粒子效應評估方法,包含單粒子翻轉、單粒子功能中斷,有效的全面評估器件抗單粒子性能。
本發明授權一種FPGA高速串行收發器單粒子效應性能評估系統及方法在權利要求書中公布了:1.一種FPGA高速串行收發器單粒子效應性能評估系統,其特征在于,包括上位機、主控系統、待測系統; 所述上位機用于進行試驗設置、試驗過程控制和試驗結果顯示; 所述主控系統包括控制處理FPGA、配置FLASH、DDR存儲器;控制處理FPGA分別與DDR存儲器、配置FLASH、上位機通訊,并通過高速串行接口與待測系統中的被測FPGA相連;DDR存儲器用于存儲配置被測FPGA的測試碼流,配置FLASH用于存儲配置控制處理FPGA的配置碼流; 所述的控制處理FPGA包括通信模塊、過程控制模塊、單粒子檢測模塊、配置刷新模塊、高速串行數據收發模塊、DDR讀寫模塊; 所述通信模塊用于接收上位機發送的控制指令、待測FPGA配置碼流; 所述過程控制模塊將控制指令發送給DDR讀寫模塊和配置刷新模塊;DDR讀寫模塊將通信模塊接收的待測FPGA配置碼流存放在DDR存儲器中; 所述單粒子檢測模塊通過高速串行數據收發模塊記錄粒子輻照期間的單粒子翻轉和單粒子功能中斷次數;單粒子功能中斷包括可恢復單粒子功能中斷和不可恢復單粒子功能中斷;當所述高速串行數據收發模塊檢測到在連續m個字組成的數據包中,每個字中有一位或多位比特錯誤記為錯碼,計一次Num_error;當數據包中Num_error大于預設門限,若持續時間小于或等于預設時間t,則計一次可恢復單粒子功能中斷,否則計一次不可恢復單粒子功能中斷; 所述配置刷新模塊用于對待測FPGA配置和刷新; 所述高速串行數據收發模塊用于與待測FPGA進行高速串行數據通訊;具體的,生成PRBS碼并發送給待測FPGA后,接收待測FPGA反饋的PRBS碼進行檢測;當開啟輻照條件后,上位機發送高速串行收發器測試指令,指令分為TX測試指令和RX測試指令;TX測試指令:控制處理FPGA中CH3通道生成PRBS碼,發送至待測FPGA中CH0通道,待測FPGA中CH0通道將數據發送至待測FPGA中CH3通道,待測FPGA中CH3通道將數據發送至控制處理FPGA中CH0通道;RX測試指令:控制處理FPGA中CH0通道生成PRBS碼,發送至待測FPGA中CH3通道,待測FPGA中CH3通道將數據發送至待測FPGA中CH0通道,待測FPGA中CH0通道將數據發送至控制處理FPGA中CH3通道; 所述待測系統用于承載待測FPGA,并使待測FPGA置于輻照試驗區內。
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