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龍圖騰網(wǎng)獲悉蘇州聯(lián)訊儀器股份有限公司申請(qǐng)的專(zhuān)利一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試裝置獲國(guó)家實(shí)用新型專(zhuān)利權(quán)，本實(shí)用新型專(zhuān)利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN223284337U 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-29發(fā)布的實(shí)用新型授權(quán)公告中獲悉：該實(shí)用新型的專(zhuān)利申請(qǐng)?zhí)?專(zhuān)利號(hào)為：202422169360.6，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R31/28；該實(shí)用新型一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試裝置是由唐仁偉;孫成揚(yáng);文根發(fā)設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2024-09-04向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專(zhuān)利申請(qǐng)。

本一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試裝置在說(shuō)明書(shū)摘要公布了：本實(shí)用新型提供了一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試裝置，涉及芯片測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。本實(shí)用新型中多個(gè)測(cè)試探針貫穿上基座，導(dǎo)電件安裝在上基座的底部，且包括多組絕緣部件組和沿第一方向間隔布置的多組導(dǎo)電部件組，每組導(dǎo)電部件組包括至少一個(gè)導(dǎo)電片，導(dǎo)電片的頂部與測(cè)試探針接觸，底部與被測(cè)芯片接觸，相鄰兩組導(dǎo)電部件組之間設(shè)有一組絕緣部件組，每組絕緣部件組包括至少一個(gè)絕緣片。本實(shí)用新型相當(dāng)于將導(dǎo)電件設(shè)置在被測(cè)芯片和測(cè)試探針之間，利用導(dǎo)電件的導(dǎo)電片增加了與被測(cè)芯片的有效接觸面積，導(dǎo)電片與被測(cè)芯片的接觸壓強(qiáng)相對(duì)于測(cè)試探針直接與被測(cè)芯片接觸的接觸壓強(qiáng)變小，使得電流分流，電流分布更加均勻，避免出現(xiàn)測(cè)試探針升溫軟化刮傷被測(cè)芯片的情況。

本實(shí)用新型一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試裝置在權(quán)利要求書(shū)中公布了：1.一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試裝置，其特征在于，包括： 上基座和下基座，所述上基座位于所述下基座的上方，且與所述下基座壓合，所述下基座的頂部具有用于安裝被測(cè)芯片的安裝位； 多個(gè)測(cè)試探針，貫穿所述上基座； 導(dǎo)電件，安裝在所述上基座的底部，且包括多組絕緣部件組和沿第一方向間隔布置的多組導(dǎo)電部件組，每組所述導(dǎo)電部件組包括至少一個(gè)導(dǎo)電片，所述導(dǎo)電片的頂部與所述測(cè)試探針接觸，底部與所述被測(cè)芯片接觸，相鄰兩組所述導(dǎo)電部件組之間設(shè)有一組所述絕緣部件組，每組所述絕緣部件組包括至少一個(gè)絕緣片。

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