中國科學院上海高等研究院甘濤獲國家專利權
買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！
龍圖騰網獲悉中國科學院上海高等研究院申請的專利一種時間分辨同步輻射X射線吸收譜與質譜聯用測試系統獲國家實用新型專利權，本實用新型專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN223284158U 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的實用新型授權公告中獲悉：該實用新型的專利申請號/專利號為：202422447156.6，技術領域涉及：G01N23/083；該實用新型一種時間分辨同步輻射X射線吸收譜與質譜聯用測試系統是由甘濤;李炯;張碩;陳雨;高倩設計研發完成，并于2024-10-10向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種時間分辨同步輻射X射線吸收譜與質譜聯用測試系統在說明書摘要公布了：本實用新型公開一種時間分辨同步輻射X射線吸收譜與質譜聯用測試系統。該系統包括：在X射線傳播方向上依次設置的光源、快掃單色器、狹縫、第一電離室、樣品室以及第二電離室，垂直于所述樣品室的光軸線設置的熒光探測器或固體探測器，與所述樣品室的末端連接的質譜儀；以及同時與第一、第二電離室和質譜儀相連的數據采集系統，該數據采集系統可獲得樣品的時間分辨XAS譜圖信息，以及反應過程中反應物和產物實時變化的MS譜圖信息。該系統結合了時間分辨同步輻射X射線吸收譜QXAFS的快速高精度結構和電子態分析能力以及質譜MS分析技術的高靈敏度物質實時檢測能力，實現了對催化劑結構動態變化以及反應物和產物分布的實時監測。
本實用新型一種時間分辨同步輻射X射線吸收譜與質譜聯用測試系統在權利要求書中公布了：1.一種時間分辨同步輻射X射線吸收譜與質譜聯用測試系統，其特征在于，包括：在X射線傳播方向上依次設置的光源、快掃單色器、狹縫、第一電離室、樣品室以及第二電離室，垂直于所述樣品室的光軸線設置的熒光探測器或固體探測器，與所述樣品室的末端連接的質譜儀；以及同時與第一、第二電離室和質譜儀相連的數據采集系統，該數據采集系統可獲得樣品的時間分辨XAS譜圖信息，以及反應過程中反應物和產物實時變化的MS譜圖信息。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院上海高等研究院，其通訊地址為：201210 上海市浦東新區張江高科技園區海科路99號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
以上內容由AI智能生成
免責聲明
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
開放平臺
擔保交易
惠及多方
會員特惠
專屬平臺
適合多方
數據共享
功能齊全
皖公網安備 34010402703815號